S-4800 S-4800扫描电镜

S-4800日立扫描电子显微镜（SEM）

Hitachi S-4800简介：

日本Hitachi公司生产S-4800型SEM，采用的E×B技术，可以分别收集和分离单纯二次电子、混合二次电子及背散射电子的信号。配有X-射线能谱仪，可在形貌观察的同时进行样品成分分析。

仪器主要配置：

X射线能谱仪，离子溅射仪，真空蒸镀仪，冷冻干燥机。

主要性能指标：

1. 二次电子分辨率：1.4nm（1kV，减速模式）；1nm（15kV）

2. 电子枪：冷场发射电子源

3. 加速电压：0.5 ～ 30 kV

4. 放大倍数：×20 ～ ×800,000

5. 探测器：低位/高位二次电子探测器

应用领域：

主要用于生物体、高分子、无机非金属、金属材料等样品的表面形貌观察及元素成分分析。广泛应用于生物、能源、材料、化工、环境等研究领域。

操作规范

一、 开机前准备

 1.1  制备样品（带口罩与手套进行）  SEM样品制备相对简单，原则上只要能放入样品室的样品，都可进行观察。

但需注意以下事项：

 a) 样品在物理上和化学上必须要保持稳定，在真空中和电子束轰击下不挥发或变形， 没有腐蚀性和放射性。（通常是干燥固体。）

 b) 由于光源是电子，样品必须导电，非导电样品可喷镀金膜。金膜在一定程度上会影 响样品原有形貌。（若样品本身导电，衬底不导电，如蓝宝石上的ZnO，只需用导电胶把样品表面连到样品台。）

 c)  由于物镜有强磁性，带有磁性的样品制样必须非常小心，防止在强磁场中样品被吸入物镜或分散在样品室中。通常磁性样品必须退磁，且工作距离（WD）须大于8mm。

  具体操作过程：  

(1) 按待测样品数量选择样品台，（支持直径d=5mm,15mm,1 inch,2 inch等规格，若要观测截面可选择带角度的样品台）。 

(2) 剪一小段导电胶，粘到样品台上。若样品为粉末，则把粉末撒到导电胶上，用吸耳球或高压氮气吹扫掉导电胶上未粘紧的粉末；若是块状样品，则把样品牢牢粘到导电胶上，用手轻轻推，样品不会左右晃动。（为观测时方便定位，将样品排列成行（或列），并在行下方（或列左侧）标上数字编号。） 

(3) 样品粘贴完成后，用吸耳球或高压氮气吹扫掉样品台上的粉末、灰尘、水珠、唾沫等（会影响照片质量，甚至使真空度下降而无法加高压，*认真执行。） 

1.2 查看真空度  打开前面板盖，点击MODE按钮直至IP1指示灯闪，在登记表记下MULT INDICATOR数码显示管的读数，同理读取IP2，IP3并记录。确认IP1<2E-7，IP2<2E-6，IP3<5E-5。（通常情况都是IP1显示0E-8，IP2显示0E-8，IP3显示0E-8或aE-7,1<a<9。）