矿物和矿石--偏光显微镜蔡司LAB-A1

矿物和矿石--偏光显微镜蔡司LAB-A1

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舒适的操作条件下进行可靠的微观结构和材料缺陷分析

从三种 Axio Lab.A1 主机架中为您的应用选择佳配置：反射光照明和/或透射光照明；用于无畸变和锥光观察的 Axio Lab.A1。

在相学中，Axio Lab.A1广泛应用于高样品的检测。在结构检测时，可以分析属的微观结构和晶粒大小或者捕获导致材料缺陷的相关机理信息，例如：疲劳度、腐蚀、应力裂纹和裂缝。 使用1301200万像素的数码相机记录检测结果。

偏光观察方式可以在法医检测犯罪样品时用于表征头发、泥土和纤维微观的结构。使用明场、荧光和偏光显微技术分析喷漆和油漆碎片。如果您是一名地质学家，则可以使用该仪器检测岩石切面和矿物样品，例如：用于石油开采。在环境保护应用中，它还能够用于辨识诸如石棉纤维材料的微观结构。

材料成像

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矿物和矿石

颜色 – 偏光显微研究

光学显微镜和电子显微镜是矿相学和矿物表征的*工具。典型的应用是对矿物的纹理和解离进行定性、定量分析及测定。大部分岩石和矿物样品含有光学各向异性材料。颜色是在显微镜下鉴定矿物的重要属性之一。因此，偏光显微镜对矿物样品的鉴定与研究具有十分重要的作用。偏光显微镜能够分析晶粒大小和形状、结晶度和岩石矿物形貌，帮助识别各类岩石矿物。

检测更多的特性

偏光显微镜在矿物表征中的广泛应用包括分析多色性、折射率和整体表面形貌，以及孪晶、杂质和解理等。岩石形成的条件，如温度、压力、形成时的组份、溶液结晶化或熔体凝固化，都会影响矿物形貌、结晶及光学特性，也可以作为我们判定某一特定岩石的成因和来源的依据。

适用于您特定需求的各种观察方式

借助透射偏光显微镜可以对抛光薄片进行研究，运用正交、锥光、DIC 及相差等各种透射光技术识别单个晶体和矿物颗粒。对于不透明的矿物，利用明场、暗场、DIC（微分干涉相差）或 C-DIC 等反射光观察方法，能够分析比如挛晶的颜色、晶体解理面及形貌等特征。大多数情况下，在对各向异性材料进行分类时，对锥光观察获得的干涉图像进行分析的价值远胜于物体本身的图像信息。

选择适合的仪器

在矿物学教育和矿石研究域中，偏光显微镜也是您的要选择，它包括简易的观察系统和的分析型仪器。这类显微镜永远不会过时，并能随时进行升级。它可以提供无应力光学元件、全功能的观察方式和测量技术，正交偏光和锥光鉴定，解理角的测定，并有多种选配件以及数字分析功能。

如需获取更深层的信息

扫描电子显微镜是一种多用途的分析仪器，例如可用于矿相分类和定量研究及矿物解离分析。矿石 & 矿物表征的常用信号为背散射电子信号，它能用于提供化学信息。