蔡司Axio Scope.A1 用于日常工作和研究的模块化显微镜

蔡司Axio Scope.A1 用于日常工作和研究的模块化显微镜

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每种组件十分灵活。配置方案成本经济。

根据需求精确配置 Axio Scope.A1，5 种不同的上部部件、3 种不同下部部件和 2 种 Vario 支柱。使用 Axio Scope.A1 在相实验中测量膜厚或使用透射光、反射光和荧光进行高难度检测。仅需购买所需部件。

Axio Scope.A1 的模块化接口设计可在材料显微和相的应用要求变化时，很方便地增加组件。大多数组件可以自行安装。

Axio Scope.A1 用途十分广泛。您甚可以在单片中使用非接触方法测试和分析大型三维样品，通过垫片将 Axio Scope.A1 样品空间扩大 110 mm 高。如果使用 Vario 支柱样品空间甚可达 380 mm。

属

相学

无论您是研发新型合材料还是进行质量控制以确保钢纯度，对相学实验而言光学显微镜和电子显微镜必不可缺。对钢中非属夹杂物或晶粒分析等某些参数的测量都必须依据严格的标准和规范来执行。相学一般研究铜、钛、铁、钢及多种合等属。我们可以使用配有专业软件模块的自动显微镜系统对上述属进行检测以及定量分析。

观察微观结构

属的显微结构决定其强度和耐腐蚀等性能。因此，利用显微镜检测微观结构对冶学以及多种工业应用有着重要的意义。相学研究的微观结构特征包括晶粒大小、晶界、相位、相变、体积分数、夹杂物、形态学及带状组织。

检测预处理

对原料属进行特殊处理以提高它们的性能，满足特定用途，例如通过添加合元素来增强硬度。多数情况下，使用显微镜进行组织观察主要运用于探究微观结构与材料性能之间的关系。显微分析借助于正置、倒置或偏光显微镜，利用明场、暗场观察方式或者借助于电子显微镜。它们在样品处理效果上起了重要的作用，可用于优化工艺参数。

选择合适的观察方式

反射光明场适合用于刻蚀表面的微观结构分析。如识别晶界来检测晶粒大小、相位及结构组份。而铸铁中石墨的杂质及结构成份分析，在样品刻蚀前就可观察到。反射光暗场则用于检测机械表面缺陷，如断裂部位、气孔、夹杂物、裂纹、划痕和凹处。使用偏光观察方式可分析镁、铝、青铜和黄铜等各向异性材料的结构。使用扫描电子显微镜时，属表面可能会被抛光和刻蚀（ 也可能不会），但必须具备导电性，因此，对于非导电材料必须镀上一层很薄的属膜。

检测非属夹杂物和污染物

原属过程中的工艺控制旨在检测钢中非属夹杂物（NMI）和材料中的污染物。如使用自动化光学显微镜，以真彩色快速且高效地扫描大样品区域，并根据行业标准评估非属夹杂物的含量。

关联和记录数据

在检测过程中，您可以在光学显微镜下轻松观察到样品中的夹杂物；通过运用关联显微技术在扫描电子显微镜下收集更多的形态学分析数据。结合扫描电子显微镜中的EDS、WDS 或 EBSD 等 X 射线分析技术，对夹杂物的化学成份和结晶学取向进行高清晰的结构成像及获取精准信息。

应用域包括

相研究在众多行业，如常规属和钢铁的，航空航天与汽车业，机械工程，建筑业及广大工业和消费品行业的中，发挥着重要作用。