美国镀金膜厚测试仪
俗称镀层测厚仪,膜厚测试仪,X-RAY膜厚仪等等.
用途:检测金属镀层膜厚厚度的仪器,保证镀层厚度品质,减少电镀成本浪费.
产品副名称:应用范围较广的标准型镀层厚度测量仪.
产品特点:
可检测元素范围:AL13 – U92.可同时测定5层/15种元素/共存元素校正.结合了大功率X射线管和高分辨率探测器,能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。
电制冷固态探测器确保的信/躁比,从而降低检测下限。
探测器分辨率*,能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。
有害元素检测结果可精确到ppm级,确保产品满足环保要求,帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。
您可以针对您的应用选择zui合适的分析模型:经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。
一旦识别出问题区域,即可对特定小点进行定量分析。
大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品,大舱门使样品更易放入。
: 舒翠
手机:
:
传真:
: sc@kinglinhk.net
地址: 宝安区沙井北环大道110号新桥综合大楼502