SHD 3000 高分辨率X射线衍射仪（High Resolution X-ray Diffraction）

SHD 3000高分辨率X射线衍射仪技术参数

• 用途：应用SHD 3000 高分辨率X-射线衍射仪来确定物质的层厚度、密度、表面和接触面的粗糙程度
  3） 应用
   纺织业
   薄膜分析
   应变测量
   半导体中的反射、层厚度、组分、密度、表面和接触面的粗糙程度

  SHD 3000高分辨率X射线衍射仪主要特点

• 有原位微处理器的超高稳定性的X射线发生器，微处理器可通过电脑串行接口控制
  高亮玻璃和陶瓷的X-射线管，在直线和点的焦点位置快速旋转
  X-Y和旋转台的电子管屏蔽
  应用Max-FluxTM 光学系统的平行光束光路
  Eulerian cradle可以使样品片刻就排列在一起
  通过带有光学编码器的步进电动机进行精确定位的高精度，高速度的测角仪
  所有电机具有七级自由度
  大尺寸X-Y-Z（X，Y，Z可调节，X，Y为150mm，Z为25mm）机械样品支架可以测量200mm的样品圆片或者其他类型的样品
  用于Cr、Fe、Co、Cu 和Mo辐射的二级单色器
  花岗岩工作台为测角仪提供了高的机械稳定性
  降低背景值或提高强度的使用填充氙气的比例、闪烁计数器、固体状态、线性和弯曲位敏检测器（PSD）
  使用Microsoft Windows 2000/NT/ME 或 XP 操作系统，在32位环境下进行数据处理和仪器控