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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

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ICS1000NIR ICS1000NIR 近红外热像显微镜

具体成交价以合同协议为准
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红外显微镜

联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息,谢谢!


 

      上海锐驰创通电子科技有限公司(ACCTRONICS ENGINEERING LTD),总部位于中国上海,同时还在香港,深圳,天津,重庆设有办事处。

      为了更好地服务国内客户,锐驰创通电子科技总经销和代理多种生产设备和仪器。

       公司致力于建立knowledge delivery system:知识传送系统,也就是不仅仅要提供Z终客户物理意义上的产品,更重要地是提升用户体验,提供产品之外的价值服务,将和产品有关工艺和知识传输给客户。

        目前公司代理的产品分为:可靠性测试/*生产/焊接系列/过程控制与检测/温度控制与检测/可编程电源

       可靠性测试产品包括:METRONELEC离子污染测试仪,CAF/离子迁移/SIR表面绝缘阻抗测试,X光无损探伤,电镀溶液添加剂分析仪,焊接强度/推拉力测试仪,电化学工作站,2D/3D锡膏厚度测试仪,OPTILIA光学检测,英国PHOENIX炉温追踪仪..

      *生产包括: 瑞士ESSEMTEC全自动/半自动印刷机,ESSEMTEC半自动/全自动贴片机,ESSEMTEC智能料仓,ESSEMTEC全自动点胶机,LED生产设备,英国ROBOTAS智能组装工作站..

        焊接设备包括: 德国WELLER焊接工具,德国ZIPATEC选择性波峰焊,德国ATN全自动焊接机器人(可以进行红外/激光/烙铁/非接触),瑞典OPTILIA BGA光学检测系统,法国METRONELEC可焊性测试仪,英国SOLDERSTAR回流焊/波峰焊测试仪,德国WELLER BGA返修工作站..

         过程控制与检测: 美国OMEGA全系统温度/流量/压力/电导/PH传感器仪器,加拿大ACR全系统数据采集装置.

         温度控制和检测:美国Omega热电偶/RTD/温控器/..

         可编程电源:美国AMETEK可编程电源

 

检测设备、生产辅料、过程控制传感器、电镀分析控制仪器设备。

ICS1000NIR 近红外热像显微镜的产品实物图:



ICS1000NIR 近红外热像显微镜的应用:

  •  通过体硅预检测及观察集成电路背面
  •  残留硅厚度测量
  •  硅结构分析
  •  便携式光子发射摄像机(带升级)
  •  激光二极管检测

的选项功能:

  •  140万像素高分辨率加强型NIR数码摄像机
  •  残留硅厚度测量选件
  •  ICS1000超便携式控制器
  •  便携式光子发射摄像机升级
  •  Windows Vista商业版操作系统

的基本功能:

  •  优化的1:7缩放NIR显微镜可观察630nm 到2um的波长
  •  长焦距 NIR物镜
  •  加强型NIR数码摄像机
  •  集成USB控制1060nm单色光照明装置
  •  亚微米精密电子聚焦模块
  •  标有0.1mm刻度的X-Y阶段为安装样本进行准确定位
  •  ICS1000 成像软件套件支持Win XP/ Pro系统
  •  ICS1000桌面系统控制器占地面积小
  •  ICS1000NIR 影响图库
  •  IC背面预检测
  •  IC 表面 IC电路

在背面预检测期间进行覆晶封装集成电路的表面检查工作是非常重要的,它能确保高质量的结果。左图显示的是设备表面,将采用*的RKD NanoPrep技术预检测其背面。此设备已经做好了背面光子发射准备且没有为采集的图像移除表面碎屑。然后,ICS1000NIR聚焦到下面的电路。右图显示的是使用220um ICS1000NIR测量残留硅的厚度。请注意,我们系统中的集成单色照明装置是如何穿透背面的硅,甚至在有碎屑的情况下,产生清晰的图像!

穿透53um的硅产生的IC背面成像。140万像素;ICS1000成像软件套件可利用按下按钮产生的日期,时间和规模信息自动标记图像。观察有细微裂纹的单晶硅太阳能电池;20X物镜。
 

上海锐驰科技有限公司

邮件:sales@acctronics.com
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