PARAM博每 测厚仪【产品编号】CHY-CB

【产品名称】PARAM博每 测厚仪

【产品编号】CHY-CB

【产品描述】

专业：

CHY-CB采用接触式测量方式，严格符合标准要求，保证了测试的规范性和准确性。

测试过程中测量头自动升降，避免了人为因素造成的误差。

实时显示测量结果的大值、小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。

严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。

支持自动和手动两种测量模式，方便用户自主选择。

配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据*性。

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CHY-CB采用了Labthink研发的嵌入式计算机系统平台，其技术优势和用户体验远超传统的单片机技术。

一体化系统设计，采用嵌入式开发技术将专业的检测设备与控制软件合二为一。

系统搭配标准显示器、鼠标、键盘，采用Windows操作界面，方便用户进行试验操作及数据展示。

控制系统从根本上了由计算机病毒、误操作等引起的系统软件故障，保证了设备运行的可靠性与数据的性。

系统内嵌4个USB接口和2个网口，方便系统的外部接入和数据传输。

智能：

CHY-CB搭配了Labthink的操作软件，具有人性化的操作界面和智能化的数据处理功能；同时，在局域网的环境中，还支持Lystem™实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告。
 

传感器标定智能提示，让用户放心使用。

软件内嵌电子帮助文档，方便用户随时查阅。

系统支持中英文切换，方便不同语言的用户使用。

系统支持试验结果比对，用户在试验开始之前设置标准数值和误差范围，试验完成后系统自动判断各个试验结果是否在标准误差范围之内，并直观的告知用户试样是否合格。

采用嵌入式数据库存储技术，保存每次试验的详细信息，并提供方便、多样的查询功能，用户可按曲线或数据列表等方式查看历史试验数据。

用户多级权限管理，方便实验室管理人员规范设备使用。

标定数据恢复功能，解决了由误操作带来的不利影响，大限度地保证了系统工作的性；系统可按用户的方式对关键信息数据进行，如各传感器的标定数据恢复操作。

通过搭配Lystem™实验室数据共享系统，试验数据与设备信息仅需简单设置与操作即可上报，轻松实现实验室测试数据的集中化和系统化管理。

测试标准：

GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817。

测试应用：

基础应用：

薄膜、薄片、 隔膜：适用于薄膜、薄片、隔膜的厚度测试。

固体电绝缘体：适用于固体电绝缘体的厚度测试。

纸张、纸板：适用于纸张、纸板的厚度测试。

纺织材料：适用于纺织材料的厚度测试。

金属片：适用于金属片的厚度测试。

箔片、硅片：适用于箔片、硅片的厚度测试。

扩展应用：

量程扩展至5，10mm ：适用于测试片材、板材的厚度。

曲面测量头：用于要求的厚度测试。

技术指标：

产品配置：

标准配置：主机、显示器、键盘、鼠标、标准量块。

选购件：测量头、配重砝码、打印机（需兼容标准PCL3打印命令语言）、Lystem™实验室数据共享系统。