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SPD 2000 多功能X射线衍射仪(Multi Functional X-ray Diffractometer)

具体成交价以合同协议为准

联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息,谢谢!


兴和仪器(上海)有限公司,前身是(株)新科上海代表处,负责中国大陆的所有业务。(株)新科公司成立于1990年,是韩国较大的热重分析仪,差热分析仪,激光颗粒度分析仪,X光探伤仪等分析仪器制造商。公司本着"为客户提供*质的产品和服务"的理念,利用其强大的研发队伍,在技术上用于创新,于1994年研发出代表较早技术的光电二极管阵列(PDA)紫外可见分光光度计。此外,我们为了满足不同客户的更多需求,与欧美Z*的分析仪器制造商们合作提供热分析仪,高性能产品。
2004年,SCINCOCHINA在世界经济飞速发展的中国经济中心城市上海成立,并快速发展。目前已与重点城市的32个代理商建立了*的合作伙伴关系。能够为客户提供快捷、高效的服务。公司聘请*秀的中国员工来应对中国市场的快速变化。强大的市场活动使新科中国公司牢牢的扎根于中国。

宣传新科的紫外可见分光光度计、荧光分光光度计、热分析仪等产品的优势。
扩大在中国区*代理的DISTEK和CILAS等产品的*。
借助在全中国的代理商网络为客户提供快捷的服务。

history:

2004.12  SCINCO CHINA成立

 2005.04  获得DISTEK溶出仪在中国区的*代理

2005.05  参加ISCL 2005展会    举办*次中国代理商会议

 

2006.01  获得CPA认证中华人民共和国计量器具型式批准证书

2006.03  举办第二次中国代理商会议

2006.09  参加Analytica China 2006展会

2006.11  由于公司规模扩大,搬入上海世界贸易大厦

 

2007.09  举办第三次中国代理商会议。

2007.10  参加BCEIA 2007展会

 

2008.03  获得CILAS激光粒度仪在中国的*代理权  参加CISILE 2008展会

2008.07   举办第四次中国代理商会议

2008.09   参加Analytica China 2009展会

2008.11   由于公司规模扩大的需要,搬入上海置地广场      组织美国药典年会

 

2009.03  主办USP研讨会(济南,天津)

 

2009.04  参加Int'l Powder展览会

 

2009.05  主办USP研讨会(南京)

 

2009.07  主办USP研讨会(广州,杭州,沈阳)

 

2009.11   参加BCEIA展览会

 

2010.03  主办USP研讨会(常州,苏州)

 

2010.04  主办USP研讨会(台州,上海)

 

2010.05  主办USP研讨会(石家庄)

 

2010.08  主办USP研讨会(成都,广州)

 

2010.09  Analytica China展览会

 

2010.10  主办USP研讨会(杭州)

 

2010.11  独立的法人实体"兴和仪器(上海)有限公司"在中国上海成立

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

激光粒度仪,热分析仪,马弗炉,光谱仪,量热仪,工业CT机,X射线探伤机

SPD 2000 多功能X射线衍射仪仪器简介:
 

用途:定性及定量分析,残余应力分析,薄膜,质地,非常规环境分析,奥氏体定量分析,晶粒尺寸/晶格应变和结晶度计算

多功能X射线衍射仪 技术参数:
 

? 常规的定性和定量分析 
? 残余应力分析 
? 薄膜,质地 
? 非常规环境分析 
? 残留奥氏体定量分析 
? 晶粒尺寸/晶格应变和结晶度计算 
应用领域 
? 环境,土壤/岩石,粘土,矿石,陶瓷 
? 水泥,玻璃,石油,催化剂,聚合物 
? 农业科学,生物科学,化学,医药,化妆品,涂料 
? 核工业,钢铁,纺织,电子和磁性材料

多功能X射线衍射仪 主要特点:
 

SPD 2000为广泛的分析需求提供了解决方案,从常规的定性和定量分析,到残余应力分析,薄膜,质地,非环境分析,残余奥氏体定量分析,晶粒尺寸/晶格应变和结晶度计算。 
SPD 2000的特点 
多功能X射线衍射仪 
有原位微处理器的超高稳定性的X射线发生器,微处理器可通过电脑串行接口控制 
带有可旋转管的管罩,可以使用点聚焦或行聚焦 
调焦Kα1单色器可以得到高亮度和分辨率 
使用Max-FluxTM光学系统的平行光束光学 
透射模式和反射模式之间可以自动转换 
高精度,高速测角仪 
适合Ag,Cr, Fe, Cu, Co , Mo 辐射的二级单色器 
填充氙气的正比,闪烁计数器,线性或弯曲的位敏检测器(PSD) 
非常规环境分析,低温或高温附件 
使用Microsoft Windows 98/NT/2000/ME 或 XP 操作系统,在32位环境下进行数据处理和仪器控制 
包括Rietveld精修的晶体结构软件

 



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