-
- 所在地:
- 上海上海市
- 公司名称:
- 岱美仪器技术服务(上海)
简介: NanotronicsnSpecLS晶圆缺陷检测光学系统是研发和过程开发的理想系统。它按顺序运行多个扫描。友好的用户界面软件使配置配方变得毫不费力。而且,随着需求的发展......
我要询价 -
- 所在地:
- 暂无
- 公司名称:
- 深圳市秋山贸易有限公司
简介: 日本进口坂本SEM半导体行业用水平测试仪5つのメリット1、水準をX,Y軸の角度精度は±0.001deg(17.5μ/m)。2、上下間隔が狭い部位のレベル観測もOK!3、......
我要询价 -
- 所在地:
- 河南郑州市
- 公司名称:
- 郑州科探仪器设备有限公司
简介: 真空测试微型探针台该腔体设计有进气口和抽真空接口其真空度用机械泵可达<5Pa分子泵可达<-3Pa。真空信号连接处使用级别真空电极信号接头,保证气密性及抗干扰......
我要询价 -
- 所在地:
- 台湾高雄市
- 公司名称:
- 光焱科技股份有限公司
简介: 光焱科技SG-ACMOS图像传感器测试仪是商用CMOS图像传感器测试仪,可以提供全面的CMOS图像传感器参数表征。被测设备可以是几种类型的CMOS图像传感器模块。检验程序......
我要询价 -
- 所在地:
- 台湾高雄市
- 公司名称:
- 光焱科技股份有限公司
简介: ARS(AngularResponseSystem)是一个针对各种光传感器的收光角度分布特性测试系统。系统由一个高准值高平行模拟光源(发散角0.1°),投射的高均匀度光斑直......
我要询价 -
- 所在地:
- 北京北京市
- 公司名称:
- 北京华测试验仪器有限公司
简介: HCTZ-2S北京华测四探针测试仪器是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻......
我要询价 -
- 所在地:
- 北京北京市
- 公司名称:
- 北京华测试验仪器有限公司
简介: HCTZ-2S华测四探针测试仪器是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄......
我要询价 -
- 所在地:
- 广东深圳市
- 公司名称:
- 深圳市中图仪器股份有限公
简介: WD4000晶圆表面形貌参数测量仪通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度,TTV,BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆......
我要询价