采购中心

1.采用组合观察方法获得出色图像

2.轻松生成全景图像

3.生成全聚焦图像

4.采集明亮区域和暗光区域

1.专为材料科学而设计的软件

2.符合行业标准要求的金相分析

1.轻松恢复显微镜设置

2.用户指导让高级分析变得更加简单

3.高效生成报告

1.可靠的光学性能：波前像差控制

2.清晰的图像：图像阴影校正

3.一致的色温：高强度白光LED照明

4.精确测量：自动校准

1. 打造专属于您的系统：利用各种可选组件获得全面定制的系统

先进的分析工具

GX53显微镜的各种观察功能可提供清晰、锐利的图像，让您能够对样品进行可靠的缺陷检测。PRECiV图像分析软件的新型照明技术和图像采集方案可为样品评估和结果记录提供更多选择。

高数值孔径和长工作距离相结合

物镜对显微镜的性能至关重要。新的MXPLFLN物镜通过同时实现数值孔径和工作距离较大化，为MPLFLN系列落射式照明成像增加了深度。放大20倍和50倍时，分辨率越高，通常意味着工作距离越短，这会迫使样品或物镜在物镜交换过程中缩回。在许多情况下，MXPLFLN系列的3 mm工作距离消除了这一问题，使检查速度更快，物镜碰到样品的可能性更小。

从不可见到可见：MIX技术

MIX技术将暗场与另一种观察方法（例如明场或偏振）相结合，使您能够查看传统显微镜难以观察的样品。圆形LED照明器具有定向暗场功能，可在指定时间照射一个或多个象限，减少样品的光晕，以便更好地观察表面纹理。

轻松生成全景图像：即时MIA

使用多图像拼接（MIA）功能时，只需转动手动载物台上的XY旋钮即可轻松完成图像拼接 — 电动载物台为可选件。PRECiV软件采用模式识别生成全景图像，非常适合检查渗碳和金属流动情况。

生成全聚焦图像：EFI

PRECiV软件的景深扩展（EFI）功能可采集高度超出景深范围的样品图像。EFI可将这些图像堆叠在一起，生成样品的单幅全聚焦图像。即使分析表面不平整的横截面样品时，EFI也能创建全聚焦图像。

EFI配合手动或电动Z轴聚焦装置，可生成高度图像，对结构进行可视化观察。

利用HDR同时采集明亮区域和暗光区域

采用先进图像处理技术的高动态范围（HDR）可调整图像内的亮度差异，从而减少眩光。该功能还有助于增强低对比度图像的对比度。HDR可用于观察电子器件中的微小结构并识别金属晶界。

PRECiV软件 — 针对材料科学优化

GX53显微镜和PRECiV软件可为满足各种行业标准要求的金相分析方法提供支持。通过分步操作指导，用户可轻松快捷地完成样品分析。

颗粒分析 — 计数和测量解决方案

计数和测量解决方案采用高级阈值法，能够可靠地分离目标（如颗粒和划痕）与背景。可使用超过50种不同的参数对样品进行测量或评级，包括形状、大小、位置和像素特性等。

微观结构中的晶粒尺寸

测量晶粒尺寸并分析铝、钢晶体结构（例如铁素体和奥氏体）以及其他金属的微观结构。
支持的标准：ISO、GOST、ASTM、DIN、JIS、GB/T

评估石墨球化率

评估铸铁样品（球墨和蠕墨）的石墨球化率和含量。对石墨节点的形态、分布和大小归类。
支持的标准：ISO、NF、ASTM、KS、JIS、GB/T

高纯度钢中非金属夹杂物含量的评定

对在恶劣视场采集图像中的非金属夹杂物或手动发现的恶劣夹杂物进行分类。
支持的标准：ISO、EN、ASTM、DIN、JIS、GB/T、UNI

比较样品图像和参考图像

可轻松比较实时或静态图像与自动缩放的参考图像。该解决方案包含符合各种标准的参考图像（也可单独购买更多的参考图像）。支持多种模式，包括实时叠加显示和并排比较。
支持的标准：ISO、EN、ASTM、DIN、SEP

详细配置及规格请联系技术确认。