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LD-DTA330-差热分析仪 DTA试验仪

2025-02-25

产      地:
暂无
所在地区:
北京北京市
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产品简介

LD-DTA330 差热分析仪 DTA试验仪 是采用差热分析法(DTA),在程序控制温度下,测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的分析仪器,用于研究样品与参比物之间的温度(T)随温度或时间的变化关系。

适用范围

LD-DTA330 差热分析仪 DTA试验仪适用于研究样品与参比物之间的温度(T)随温度或时间的变化关系,广泛应用于各种材料的DTA试验。

DTA 试验中,样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如:相转变,熔化,结晶结构的转变,沸腾, 升华,蒸发,脱氢反应,断裂或分解反应,氧化或还原反应,晶格结构的破坏和其他化学反应。

主要技术参数

1. 温度范围: 室温~1150℃

2. 量程范围: 0±2000μ V

3. DTA 精度: 0.1μ V

4. 升温速率: 0.1100℃/min

5. 温度分辨率: 0.01℃

6. 温度准确度: ±0.1℃

7. 温度重复性: ±0.1℃

8. 温度控制:

  1. 升温:程序控制,可根据需要进行参数的调整

  2. 恒温:程序控制,恒温时间任意设定

9. 炉体结构:炉体采用上开盖式结构,代替了传统的升降炉体,精度高,易于操作;

10.  气氛控制:内部程序自动切换;

11.  数据接口:标准USB 接口  配套数据线和操作软件;

12.  显示方式:24bit 7 LCD 触摸屏显示;

13.  参数标准:配有标准物,带有一键校准功能,用户可自行对温度进行校正;

14.  软件:带多点温度校正及热焓校正;可以导出EXECL数据、PDF报告;

15.  工作电源:AC 220V/50Hz

16.  通讯:USB 双向通信;

17.  曲线扫描:升温扫描、恒温扫描、降温扫描;

18.  仪器液晶屏界面带三点温度校正功能,满足高中低不同温度段测试            

配置清单

序号

配置

数量/单位

备注

1

差热仪器

1


2

软件U

1


3

通讯数据线

2

USB数据通讯

4

电源线

1


5

铝坩埚

200


6

陶瓷坩埚

100

用于腐蚀性强的样品测试

7

炉体盖

3

多层隔热

8

生胶带

1


9

标准物质

1

铟、锡

10

10A保险丝

5


11

样品勺/样品压杆/镊子

1


12

粉尘清洁球

1


13

气管(含接头)

2

Φ8mm

14

说明书、保修卡、合格证

1


15

说明书

1


16

合格证

1


17

保修单

1


 

 

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