产品优势
大尺寸样品分析 Veritas系列可以分析常规SEM无法分析的大尺寸样品。例如:晶圆,磁盘
无损样品分析 无需切割即可分析样品。例如PCB,半导体图案分析
较重样品分析 能够分析重达2kg的样品。例如岩石,铁矿石
快速样品分析 同时进行多个样品的分析,大大提高工作效率,节约成本
技术参数
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广州领拓仪器科技有限公司
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