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SEM2000-国仪量子国产钨灯丝扫描电子显微镜

2024-04-27

产      地:
暂无
所在地区:
江苏无锡市
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SEM2000.png


国仪量子国产电镜-扫描电镜-国产钨灯丝扫描电子显微镜

SEM2000


SEM2000是一款基础款的多功能分析性钨灯丝扫描电镜。20 kV分辨率可以做到3.9 nm,支持升级30 kV电压,可观察亚微级尺度样品的微观结构信息。拥有比台式电镜更大的移动范围,适用于快速筛选待测样品,更多的扩展接口,可搭载BSED、EDS等附件,使应用领域更广。



产品特点
简洁的操作界面

纯中文的操作界面

功能设计简单易操作。符合国人使用习惯,即使是新手用户,简单了解后也能快速上手。

完善的自动化功能

自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散,均可一键调节,提高工作效率。

丰富的测量工具

长度、面积、圆度、角度等测量功能强大的照片管理和预览、编辑功能。


特色功能

光学导航

想看哪里点哪里,导航更轻松

标配光学导航摄像头,可拍摄高清样品台照片,快速定位样品。








防撞设计

对新手更友好的防碰撞设计,最大限度保护敏感单元。







一键成像

*软件一键成像,新手也能轻松驾驭。







分析距离

最佳分析距离和成像距离二合一,轻松体验优质性能。






多种信息同时成像

SEM2000软件支持一键切换SE和BSE的混合成像。可同时观察到样品的形貌信息和成分信息。


分辨率指标

SE:3.9 nm @20 kV

BSE:4.5 nm @ 20 kV


丰富的扩展性

高灵敏度背散射探测器

· 多通道成像

探测器设计精巧,灵敏度高,采用4分割设计,无需倾斜样品,可获得不同方向的阴影像以及成分分布图像。


四个单通道的阴影像

成分像




二次电子成像和背散射电子成像对比

背散射电子成像模式下,荷电效应明显减弱,并且可以获得样品表面更多的成分信息。

能谱

金属夹杂物能谱面扫分析结果。


电子背散射衍射

钨灯丝电镜束流大,满足高分辨EBSD的测试需求,能够对金属、陶瓷、矿物等多晶材料进行晶体取向标定以及晶粒度大小等分析。 该图为Ni金属标样的EBSD反极图,能够识别晶粒大小和取向,判断晶界和孪晶,对材料组织结构进行精确判断。


应用案例



国仪量子国产钨灯丝扫描电子显微镜助力更好的科研工作生活!














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