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半导体晶体生长测温仪

2024-05-20

产      地:
德国
所在地区:
上海上海市
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IGAR 12-LO 半导体红外测温仪300°C 至 3300°C 数字化双色红外温度传感器

温度范围:300°C 至 3300°C 之间;

模拟输出:0 至 20 mA 或 4 至 20 mA 可切换,负载 0 至 500 Ohm,测试电流 10 mA(按下测试键);

曝光时间极短;

光斑尺寸极小;

存储值大。

12.png

核心优势IGAR 12-LO

- 在高温/高压/电磁场等环境中,只放进一个测温镜头,通过光纤传输光信号,可大程度的减少了环境的干扰项,保证测量的准确无误

- 测温范围全覆盖(300~2500℃)

- 高精度,可精确读数到0.5%+1℃

- 极短的响应时间(2ms)

- 极小的光斑尺寸(最小为0.45mm)

- 光纤探头耐温高达250℃(Maurer为150℃)

- 诊断功能

- 双色/单色、0/4-20mA、RS232/RS485均可切换

可解决问题

  • 还原炉应用中,需多点位测温,有的点位位置较高对准目标比较困难。

  • 需透视窗测量反应物。建议使用近红外短波测温。

  • 直拉法应用中,一般集成于内部温控系统,安装空间有限。建议使用分体光纤式设备。

  • 升温过程中,材料状态可能发生变化,导致发射率随之发生变化导致测温失准。建议使用双色测温仪


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