主要特点：
红外波长的双折射/相位差面分布测量
- 硫系、红外透明树脂等的光学畸变评估
- 小型、簡単操作、高速測量
- WPA-NIR能高速的测量/分析波长为850nm或940nm的双折射分布
- 安装既有的操作简单和实用的软件WPA-View
- 可以自由分析任意线上的相位差分布图形、任意区域内的平均值等的定量数据
- 可搭配流水线对应的『外部控制选配』，也可应用于量产现场
主要功能：
- NIR波长仅需操作鼠标数秒内就能获取高密度的双折射/相位差信息
- 测量数据的保存/读取简单快捷
- 全部的测量结果都可以做保存/读取，易于跟过去的测量结果做比较等
- 丰富的图形创建功能
- 可以自由制作线图形和直方图
- 测量结果可以在一个图形上做比较，也可以用CSV格式输出
主要参数：
实际测量对比：
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