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颐光科技闪耀慕尼黑上海光博会 以硬核技术擘画光学量测新蓝图
2026年03月20日 17:26:16
来源：化工仪器网 作者：珙桐 点击量：5054
武汉颐光科技有限公司重磅亮相第二十一届慕尼黑上海光博会，凭借精准高效的光学量测解决方案，赢得了现场观众与行业同仁的广泛认可。
3 月 18 日，以 “光启新元・势引未来” 为主题的第二十一届慕尼黑上海光博会于上海新国际博览中心隆重开幕。本届展会焕新升级，以超 10 万平方米展示规模，汇聚全球 1400 余家行业领军企业，打造集技术创新、成果转化、产业协同于一体的顶级交流平台，全方位呈现光电产业前沿技术成果，赋能中国光电产业向高端化、全球化纵深发展。武汉颐光科技有限公司(简称：颐光科技)携多款明星产品、核心技术重磅参展，凭借精准高效的光学量测解决方案，赢得了现场观众与行业同仁的广泛认可。
作为国内专注于高端光谱椭偏仪及相关光学量测设备研发、制造与销售的高新技术企业，颐光科技十余载深耕光学量测领域，以自主创新为核心引擎，构建起覆盖科学研究至工业应用的全链条产品矩阵。公司依托母公司上海精测半导体技术有限公司在半导体前道量检测领域的技术积淀与产业资源，深化协同创新与技术融合，持续推进高端光学量测仪器国产化、产业化进程，致力打造用户信赖的国产光学量测标杆品牌。
颐光科技展台人潮涌动
本次展会上，颐光科技重磅展出了 ME-Mapping 光谱椭偏仪与 SR-Mapping 反射膜厚仪两大明星产品，精准适配半导体、显示面板、光通信、新能源等多领域量测场景需求。
ME-Mapping光谱椭偏仪
ME-Mapping光谱椭偏仪配置氘卤灯复合光源，可覆盖193-2500nm光谱波段，采用高精度双旋转补偿器调制技术，实现Psi/Delta光谱数据的精准采集，支持2-12寸基片mapping扫描测量，快速表征膜厚均匀性；软件内置丰富的材料数据库与光学模型，保障了强大的数据分析能力，广泛应用于集成电路、显示面板、光学镀膜及太阳能光伏等工业领域。
SR-Mapping反射膜厚仪
SR-Mapping基于反射干涉原理实现薄膜的非接触、无损测量，依托光机电高度整合一体化设计，具有高精度、测量速度快等优点；支持薄膜、厚膜、单层及多层薄膜的测量和分析，测量精度高达0.02nm，兼容2到12寸样品扫描测量，实现薄膜及衬底晶圆的二维厚度分布测量；广泛应用于各种介质保护膜、有机薄膜、半导体薄膜及玻璃薄膜等测量场景。
从实验室科研探索到工业规模化量产，颐光科技以核心技术突破，打破高端光学量测仪器长期依赖进口的格局，为中国精密制造与科技创新注入澎湃动能。未来，颐光科技将坚守 “先进椭偏测量引领者” 的定位，秉持 “掌握核心技术，推动国内精密光学分析仪器国际化” 的使命，持续迭代产品与服务，为客户创造更高价值，助力中国光电产业在全球竞争中绽放更耀眼的光彩。
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