高低温试验箱 返回列表页

产品型号

高低温试验箱

型号说明

HEP GDW  150   S                 

用途

高低温试验箱适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过该试验，提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。高低温交变湿热试验箱是航空、汽车、家电、科研等领域的测试设备，考核和确定电工、电子、半导体、通讯、光电、电器、汽车电器、材料等产品，在进行高低温湿热试验的温度环境变化后的参数及性能，使用的适应性，适用于学校，工厂，研发等单位。

容积和尺寸

有效容积

（150L）

内箱尺寸(mm)

W500×D500×H600mm(宽*深*高)

外形尺寸(mm)

W780×D1200×H1750mm(宽*深*高)

性能

温度范围

-60℃~+150℃

升温速率

1℃/min~3℃/min 非线性   空载状态

降温速率

0.7℃/min~1℃/min  非线性 空载状态

解析精度

0.01℃

温度波动度

±0.5℃

温度偏差

≤±2.0℃

温度均匀度

≤2.0℃

电源

AC 220V  50Hz（电压波动≤±10%）

功率

最大有效功率6KW

设备重量

约200kg以实际重量为准

满足试验标准

GJB150.3-2009高温试验

GJB150.4-2009低温试验

GB/T   10592-2008 高低温试验箱技术条件；

GB/T   2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法   试验A：低温（IEC 60068-2-1:2007,IDT）;

GB/T   2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法   试验B：高温（IEC 60068-2-1:2007,IDT）；

 GB/T 2423.22-2012电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验N:温度变化（IEC 60068-2-14:2009，IDT）；

冷却方式

设备采用风冷式