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宇航志达试验装备（东莞市）有限公司
主营产品： 两箱式高低温冲击箱,高低温实验试验箱,恒定高低温试验箱 |
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宇航志达试验装备（东莞市）有限公司
主营产品： 两箱式高低温冲击箱,高低温实验试验箱,恒定高低温试验箱 |
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PCT高压寿命加速老化箱/试验箱 简单介绍：PCT高压寿命加速老化箱/试验箱武汉厂家外箱均采用304不锈钢板，圆型内箱，不锈钢圆型试验内箱结构，符合工业容器标准，可防止试验中结露滴水设计 产品型号： 所在地：东莞市 更新时间：2023-05-29 |
参考价:¥58600 询价留言 | ||
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非饱和高压PCT加速寿命老化箱/试验箱 简单介绍：非饱和高压PCT加速寿命老化箱/试验箱 控制器运算采用模糊算法，技术控制，精度高，使之达到效果；7″TFT真彩LCD触摸屏，比其它屏更大。控制器人机界面互动友好形式设计，操作方便，运行更可靠。具有USB接口直接拷贝记录功能，包括历史曲线，历史数据等，直接拷贝到计算机查看分析及存盘。可选RS-232或RS-485通讯接口,可双向操控机器及计算机硬盘储存数据。 产品型号： 所在地：东莞市 更新时间：2023-05-29 |
参考价:面议 询价留言 | ||
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PCT高压加速老化箱/试验箱 简单介绍：PCT高压加速老化箱/试验箱用于电工、电子、仪器仪表及其它产品、零部件及材料在高低温环境下贮存、运输、使用时的适应性试验；是各类电子、电工、电器、塑胶等原材料和器件进行耐寒、耐热、耐干性试验及品管工程的可靠性测试设备；特别适用于光纤、LED、晶体、电感、PCB、电池、电脑、手机等产品的耐高温、耐低温、循环试验。 产品型号： 所在地：东莞市 更新时间：2023-05-28 |
参考价:¥61500 询价留言 | ||
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PCT高温高压蒸煮加速耐老化试验箱/机 简单介绍：PCT高温高压蒸煮加速耐老化试验箱/机加速老化试验双重过热保护装置，当锅内温度过高时，机器鸣叫警报并自动切断加热电源。采用进口微电脑控制饱和蒸气温度、微电脑P.I.D自动演算控制饱和蒸气温度 产品型号： 所在地：东莞市 更新时间：2023-05-28 |
参考价:¥65200 询价留言 | ||
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PCT高压加速老化试验箱 简单介绍：PCT高压加速老化试验箱用于电工、电子、仪器仪表及其它产品、零部件及材料在高低温环境下贮存、运输、使用时的适应性试验；是各类电子、电工、电器、塑胶等原材料和器件进行耐寒、耐热、耐干性试验及品管工程的可靠性测试设备；特别适用于光纤、LED、晶体、电感、PCB、电池、电脑、手机等产品的耐高温、耐低温、循环试验。 产品型号： 所在地：东莞市 更新时间：2023-05-28 |
参考价:¥68500 询价留言 | ||
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YH-HAST-450非饱和高压加速老化试验箱 简单介绍：非饱和高压加速老化试验箱 控制器运算采用模糊算法，技术控制，精度高，使之达到效果；7″TFT真彩LCD触摸屏，比其它屏更大。控制器人机界面互动友好形式设计，操作方便，运行更可靠。具有USB接口直接拷贝记录功能，包括历史曲线，历史数据等，直接拷贝到计算机查看分析及存盘。可选RS-232或RS-485通讯接口,可双向操控机器及计算机硬盘储存数据。 产品型号：YH-HAST-450 所在地：东莞市 更新时间：2023-05-28 |
参考价:¥126800 询价留言 | ||
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PCT高压加速寿命加老化测试试验箱 简单介绍：PCT高压加速寿命加老化测试试验箱主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。 产品型号： 所在地：东莞市 更新时间：2023-05-28 |
参考价:¥56800 询价留言 | ||
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YH-PCT中山PCT气候高压加速老化试验箱 简单介绍：中山PCT气候高压加速老化试验箱主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。 产品型号：YH-PCT 所在地：东莞市 更新时间：2023-05-28 |
参考价:面议 询价留言 | ||
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首页-高压寿命加速老化箱|高温蒸煮试验仪 简单介绍：首页-高压寿命加速老化箱|高温蒸煮试验仪主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。 产品型号： 所在地：东莞市 更新时间：2023-05-27 |
参考价:面议 询价留言 | ||
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首页高温蒸煮仪高压加压加速老化寿命试验机 简单介绍：首页高温蒸煮仪高压加压加速老化寿命试验机主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。 产品型号： 所在地：东莞市 更新时间：2023-05-27 |
参考价:面议 询价留言 | ||
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PCT高压加速寿命老化试验箱/hast加速老化箱 简单介绍：PCT高压加速寿命老化试验箱/hast加速老化箱用于电工、电子、仪器仪表及其它产品、零部件及材料在高低温环境下贮存、运输、使用时的适应性试验；是各类电子、电工、电器、塑胶等原材料和器件进行耐寒、耐热、耐干性试验及品管工程的可靠性测试设备；特别适用于光纤、LED、晶体、电感、PCB、电池、电脑、手机等产品的耐高温、耐低温、循环试验。 产品型号： 所在地：东莞市 更新时间：2023-05-27 |
参考价:¥56900 询价留言 | ||
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PCT高压加速寿命老化试验箱 简单介绍：PCT高压加速寿命老化试验箱高压加速老化试验双重过热保护装置，当锅内温度过高时，机器鸣叫警报并自动切断加热电源。采用进口微电脑控制饱和蒸气温度、微电脑P.I.D自动演算控制饱和蒸气温度 产品型号： 所在地：东莞市 更新时间：2023-05-27 |
参考价:¥59800 询价留言 | ||
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线路板高压湿热加速老化试验机通电测试箱厂 简单介绍：线路板高压湿热加速老化试验机通电测试箱厂 PCT试验箱 高压加速老化试验双重过热保护装置，当锅内温度过高时，机器鸣叫警报并自动切断加热电源。采用进口微电脑控制饱和蒸气温度、微电脑P.I.D自动演算控制饱和蒸气温度 产品型号： 所在地：东莞市 更新时间：2023-05-27 |
参考价:面议 询价留言 | ||
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IC半导体通电测试高压加速老化湿热试验箱 简单介绍：IC半导体通电测试高压加速老化湿热试验箱 高压加速老化试验箱武汉厂家外箱均采用304不锈钢板，圆型内箱，不锈钢圆型试验内箱结构，符合工业容器标准，可防止试验中结露滴水设计 产品型号： 所在地：东莞市 更新时间：2023-05-27 |
参考价:面议 询价留言 | ||
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高压加速老化试验箱（PCT）/精密高温高压老化 简单介绍：高压加速老化试验箱（PCT）/精密高温高压老化主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。 产品型号： 所在地：东莞市 更新时间：2023-05-27 |
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高温高压环境加速试验箱/高压加速测试箱 简单介绍：高温高压环境加速试验箱/高压加速测试箱主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。 产品型号： 所在地：东莞市 更新时间：2023-05-27 |
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可程式高压加速老化箱/hast高压寿命试验机 简单介绍：可程式高压加速老化箱/hast高压寿命试验机主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。 产品型号： 所在地：东莞市 更新时间：2023-05-27 |
参考价:¥56900 询价留言 | ||
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Pct高压加压加速老化寿命试验机/高压测试箱 简单介绍：Pct高压加压加速老化寿命试验机/高压测试箱主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。 产品型号： 所在地：东莞市 更新时间：2023-05-27 |
参考价:¥52900 询价留言 | ||
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高温高压蒸煮仪/非饱和高压加速老化试验箱 简单介绍：高温高压蒸煮仪/非饱和高压加速老化试验箱主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。 产品型号： 所在地：东莞市 更新时间：2023-05-27 |
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