二手Fischer XULM 膜厚仪  在电镀或电子元件生产过程中需要快速且精确地测定镀层厚度时，XUL® 系列测量仪器是您的优先解决方案。X 射线荧光仪器可自下而上进行测量，能够在测量台上对样品进行轻松定位。该系列的所有 X 射线仪器均配备相同的探测器。您可以根据自己的测量需求选择不同的准直器、滤波器以及 X 射线管。

特性：

• 凭借宽大的测量室和自下而上的测量方向，即使大型样品（如：印制电路板或柔性电路板）也可简便、快速地定位
• 硬件选项丰富多样，可满足各种测量需求
• 可选配微聚焦 X 射线管，从而可测量直径仅为 100 µm 的微型结构和测量表面

应用：

• 铬镀层，如：经过装饰性镀铬处理的塑料制品
• 防腐蚀镀层，如钢材上的锌镀层
• 印制电路板和柔性电路板上的镀层
• 接插件和连接器上的镀层
• 电镀槽液分析

二手Fischer XULM 膜厚仪  特点

• 用途广泛的镀层厚度测量仪，包括金层测厚、银层测厚和化金厚度等。
• 通过组合可选的高压和滤片，可以对较薄的镀层（如50 nm Au 或 100 μm Sn）和较厚的镀层进行同样效果的测量.
• 配有的微聚焦管，可以测量100 μm大小的微小测量点。
• 比例计数器可实现数千cps（每秒计数率）的高计数率。
• 从下至上的射线方向，从而可以快速简便的放置样品。
• 底部C型开槽的大容量测量舱  。

 典型应用领域

• 测量线路板工业中 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB中的镀层
• 电子行业中接插件和触点上的镀层
• 装饰性镀层Cr/Ni/Cu/ABS
• 电镀镀层，如大规模生产零件（螺栓和螺母）上的防腐蚀保护层Zn/Fe，ZnNi/Fe
• 珠宝和钟表工业。
• 测量电镀液中金属成分含量，例如金层测厚、银层测厚