TEMP 2000A便携式红外发射率/反射率测定仪产品彩页

发射率·半球光谱反射率·薄膜厚度测试

TEMP 2000A 便携式红外发射率/反射率测定仪，可在3-35 微米范围内测试半球反射率测试 （total hemispherical reflectances） ，提供法线 方向和 半球方向300K 环境条件下的发射率测定。  可取代已经停产的业界标准 Gie薄膜厚度测试r Dunkle DB  100 红外反射率测定计，并在性能和保养性方 面都优于该型号反射计。并配备电池、充电器等，以及适应喷气式飞机飞行环境的便携箱， 紧凑、轻便、适合在野外和实验室使用。符合 ASTM E408 标准。  TEMP2000A中采用的光学元件、镀膜材料决定了其还可以在更宽的波长范围进行测试。