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METTLER梅特勒密度天平XS3DU

METTLER梅特勒密度天平XS3DU
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更新时间：2024-04-15 11:14:34浏览次数：212次

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产品简介
极限值XS3DU双量程典型值XS3DU双量程称量值3

详情介绍


极限值    XS3DU双量程典型值    XS3DU双量程
称量值    3.1 g典型重复性（sd）   0.0005 mg +1.2 x (10?C7)?R_gr
可读性    0.01 mg 典型微分非线性（sd）   √2x(10-12)g?R_nt
称量值    0.8 g典型微分四角误差（sd）   1.2 x (10?C6)?R_nt
可读性    0.001 mg典型灵敏度偏移（sd）   3 x (10?C6)?R_nt
重复性(sd) - 加载处    0.006 mg典型最小称量值*    @ U=1 %, 2 sd) 0.1 mg+2.4 x (10?C6)?R_gr
- 低加载（加载处）   0.005 mg (0.2 g)典型稳定时间    < 6 sec
重复性(sd) - 加载处    0.001 mg稳定时间    < 10 sec
- 低加载（加载处）   0.0008 mg (0.2 g)1) 根据OIML R76 
2) 在10到30°C的温度范围内 
3) 次安装，使用proFACT校准，灵敏度稳定性 
4) 能用于估计不确定度 sd=标准偏差 Rgr=毛重 Rnt=净重（样品质量） a=年
* 重复性和最小称量值可以通过以下措施得以改进：- 选择适当的称量参数设置，
- 选择合适的天平放置位置，- 使用较小的去皮容器。
线性误差  

  0.004 mg

四角误差（加载处）0.005 mg (2 g)



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