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METTLER梅特勒分析天平XP2U

METTLER梅特勒分析天平XP2U
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更新时间：2024-04-15 09:45:49浏览次数：113次

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产品简介
参数名称极限值参数名称典型值称量值2

详情介绍


参数名称    极限值参数名称   典型值
称量值  

  2.1 g

典型重复性（sd）   0.00015 mg+2.5 x (10–8)· R_gr
可读性  

  1μg

典型微分非线性（sd）   √8x(10-14) · g · R_nt
重复性(sd) - 加载处   0.00025 mg典型微分四角误差（sd）   8 x (10–7) . R_nt
- 低加载（加载处）   0.0002 mg (0.2 g)典型灵敏度偏移（sd）2)     3x(10-6)· R_nt
线性误差    0.001mg典型最小称量值*（符合USP）   0.45 mg+7.5 x (10–5) · R_gr
四角误差（加载处）1)     0.0025 mg (1 g)典型最小称量值* (@ U=1 %, 2 sd)     0.03 mg+5 x (10–6) · R_gr
灵敏度漂移 

  1.5 x 10-5

典型稳定时间     < 10 s
灵敏度温度漂移 2)  

  0.0001 %/°C

1) 根据OIML R76
2) 在10到30°C的温度范围内
3) 次安装，使用proFACT校准，灵敏度稳定性
4) 能用于估计不确定度 sd=标准偏差 Rgr=毛重 Rnt=净重（样品质量） a=年
* 重复性和最小称量值可以通过以下措施得以改进：- 选择适当的称量参数设置，- 选择合适的天平放置位置，- 使用较小的去皮容器。
灵敏度稳定性 3)  

  0.0001 %/a

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