NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:-TSV profile (depth,bottom...

Hysitron 纳米力学测试系统布鲁克专门设计的Hysitron TI Premier 纳米力学测试仪器在紧凑平台中提供了业界的、定量纳米力学表征技术。以被广...

红外干涉测量设备适用于可让红外线通过的材料硅、蓝宝石、砷化镓、磷化铟、碳化硅、玻璃、石英、聚合物…………衬底厚度(不受图案硅片、有胶带、凹凸或者粘合硅片影响)平...

三维表面测量系统布鲁克NPFLEX三维表面测量系统为大样品的表面表征测量提供了灵活的非接触式的方案，超过300度的测量空间，克服了以往由于零件某些角度或取向问题...

光学轮廓仪系统​光学轮廓仪系统适用于科研和生产的高质量表面测量手段ContourGT-I3D光学显微镜将三十多年表面测量经验和技术融合到单一平台上，实现调整校准...

纳米力学测试系统布鲁克的海思创TI 980 TriboIndenter同时具有高的性能、灵活性、可信度、实用性和速度。基于海思创几十年的技术，他为纳米力学表征带...

光学轮廓仪ContourGT-XContourGT-X布鲁克光学轮廓仪是白光干涉仪，可用于眼科镜片、医疗器械、高亮度LED、半导体器件、TSV、太阳能电池片、汽...

三维光学轮廓仪表面轮廓仪用于加工的表面，薄膜，半导体，眼科，医疗设备，MEMS和摩擦学等领域的测量分析。融合了表征、可定制选

台阶仪-表面轮廓仪德国布鲁克DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）可以提供更高的重复性和分辨率，测量重复性可以到5Å。台阶仪这项性能的到了过去四十...

探针式轮廓仪Dektak XTL探针式轮廓仪是一种用于化学、材料科学、电子与通信技术、化学工程领域的分析仪器。分析样品表面大尺寸三维形貌，探测样品厚度。