WPA系列可测量相位差高达3500nm，适合PC高分子材料，是Photonic lattic公司以其的光子晶体制造技术开发的产品，*的测量技术，使其成为*的光学测量产品。 应力双折射测量系统在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量，全面掌握应力分布。WPA-200型更是市场上的万能机器，适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果，二维图表可以更直观的读取数据。
应力双折射测量系统WPA-200主要特点:
操作简单，测量速度可以快到3秒。
采用ＣＣＤ Camera，视野范围内可一次测量，测量范围广。
测量数据是二维分布图像，可以更直观的读取数据。
具有多种分析功能和测量结果的比较。
维护简单，不含旋转光学滤片的机构。
*很高的残余应力测量设备。
主要应用：
· 光学零件（镜片、薄膜、导光板）
· 透明成型品（车载透明零件、食用品容器）
· 透明树脂材料（PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC）
· 透明基板（玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石）
· 有机材料（球晶、FishEve）
技术参数：
项次 | 项目 | 具体参数 |
1 | 输出项目 | 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】 |
2 | 测量波长 | 520nm、543nm、575nm |
3 | 双折射测量范围 | 0-3500nm |
4 | 测量小分辨率 | 0.001nm |
5 | 测量重复精度 | <1nm（西格玛） |
6 | 视野尺寸 | 218x290mm-360×480mm（标准） |
7 | 选配镜头视野 | 无选配 |
8 | 选配功能 | 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制，CD模式 |
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