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新款适用于红外产品的双折射应力测量系统
针对市场的需要,我们开发了新款红外波段的应力双折射测量系统WPA-NIR,对分析红外光学产品提供了帮助,新款的WPA-NIR在以往的设计基础上,更加的小型化,操作简单、测量速度快,可搭配流水线使用。
应力双折射测量系统WPA-NIR可以选用红外两个波长对红外产品进行进行检测,目前国内镜片厂商已采购,操作简单,即学即用。
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