2600-PCT-1B半导体测试系统

2600-PCT-1B半导体测试系统开发和使用 MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件，需要全面的器件级检定，如击穿电压、通态电流和电容测量。 Keithley 高功率参数化波形记录器系列的配置支持所有的设备类型和测试参数。 Keithley 参数化波形记录器配置包括检定工程师快速开发全面测试系统所需的一切。

特点

• 完善的解决方案，价格实惠且性能优异
• 可现场升级和重新配置，将 PCT 转换成可靠性或晶片分类测试仪
• 可配置功率电平：
  • 200V 至 3kV
  • 1A 至 100A
• 宽动态范围：
  • µV 至 3kV
  • fA 至 100A
• 全量程容-电压 (C-V) 能力：
  • fF 至 µF
  • 支持 2、3 和 4 端器件
  • 高达 3kV DC 偏移
• 高性能测试夹具支持一系列软件包类型
• 探头测试台接口支持最常见的探头类型，包括 HV 同轴三线电缆、SHV 同轴电缆、标准同轴三线电缆等2600-PCT-1B半导体测试系统

  型号

  型号	说明	高压模式	大电流模式	在线购买	价格
  2600-PCT-1B	低功率	200 V/10 A 200 V/10 A	200 V/10 A 200 V/10 A	-	US $26,600 配置与报价
  2600-PCT-2B	高电流	200 V/10 A 200 V/10 A	40 V/50 A 40 V/50 A	-	US $45,300 配置与报价
  2600-PCT-3B	高压	3 kV/120 mA 3 kV/120 mA	200 V/10 A 200 V/10 A	-	US $52,600 配置与报价
  2600-PCT-4B	高电流和高电压	3 kV/120 mA 3 kV/120 mA	40 V/50 A 40 V/50 A	-	US $71,400 配置与报价