PPG4000相干光信号分析仪

PPG4000相干光信号分析仪泰克 PPG 系列高性能码型发生器提供多通道配置，能够胜任高达 40 Gb/s 的数据速率。 通过可选的抖动插入，PPG 系列提供灵活、低廉和方便使用的解决方案，支持高速应用，如 100 千兆以太网、DP-QPSK 测试、多电平 (PAM) 信令以及大量的接收器测试应用。 与泰克 PatternPro® PED 系列误码检测器结合可形成完整的 40 Gb/s BERT 系统。

PPG4000相干光信号分析仪

RSA5103B 1 Hz - 3 GHz 25 MHz、40 MHz、80 MHz、125 MHz 和 165 MHz 0.434 μs -80 dBc - 配置与报价

RSA5106B 1 Hz - 6.2 GHz 25 MHz、40 MHz、80 MHz、125 MHz 和 165 MHz 0.434 μs -80 dBc - 配置与报价

RSA5115B 1 Hz - 15 GHz 25 MHz、40 MHz、80 MHz、125 MHz 和 165 MHz 0.434 μs -80 dBc - 配置与报价

RSA5126B 1 Hz - 26.5 GHz 25 MHz、40 MHz、80 MHz、125 MHz 和 165 MHz 0.434 μs -80 dBc - 配置与报价

RSA7100A 16 kHz – 14/26.5 GHz 320/800 MHz 700 ns 65 dBc - 配置与报价

PA1000 1 0.04% 读数 + 0.04% 范围 600 VRMS 20 ARMS 直流到 1 MHz 配置与报价

PA3000 1月4日 0.04% 读数 + 0.04% 范围 600 Vrms CAT II (2000Vpk) 30 Arms 直流到 1 MHz US $7,250

4200A-SCS-PK1 高分辨率 IV 套件 210V/100mA，0.1 fA 分辨率 对于两端和三端设备，MOSFET、CMOS 检定套件 4200A-SCS-PK1 包括：4200A-SCS 参数分析仪 (2) 4200-SMU 模块 (1) 4200-PA 前置放大器 (1) 8101-PIV 测试夹具与采样设备

4200A-SCS-PK2  高分辨率 IV 和 CV 套件 "210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz  对于高 K 电解质，深亚微米 CMOS 检定套件 4200A-SCS-PK2 包括：

4200A-SCS 参数分析仪

(2) 4200-SMU 模块

(1) 4200-PA 前置放大器

(1) 4210-CVU 电容-电压模块

(1) 8101-PIV 测试夹具与采样设备"

4200A-SCS-PK3 高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件 "210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 对于功率设备、高 K 电解质，深亚微米 CMOS 设备检定套件 4200A-SCS-PK3 包括：对于功率设备、高 K 电解质，深亚微米 CMOS 设备检定套件 4200A-SCS-PK3 包括：

4200A-SCS 参数分析仪

(2) 4200-SMU 模块

(2) 4210-SMU

(1) 4200-PA 前置放大器

(1) 4210-CVU 电容-电压模块

(1) 8101-PIV 测试夹具与采样设备"

4200-BTI-A 超快 NBTI/PBTI 套件 "用于使用* CMOS 技术套件进行复杂的 NBTI 和 PBTI 测量 4200-BTI-A 包括： (1) 4225-PMU 超快 I-V 模块

(2) 4225-RPM 远程前置放大器/开关模块

自动化检定套件 (ACS) 软件

超快 BTI 测试项目模块

电缆"

BSX125 1 12.5 Gb/s 128/2 - 配置与报价