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当前位置：徐州晟浩电子科技有限公司>>无损探伤检测仪器及耗材>>磁粉探伤试块、试片>> KSC-230美国磁通QQI 磁粉探伤试片
美国磁通I 磁粉探伤试片
I试片
定量品质试片
I是带有人工缺陷的标准磁粉检测试片。用于：将激磁次数降至zui少，以提高生产效率；确定磁场方向和相对的磁场强度；平衡多向磁场。
标准I试片
缺陷成基园和十字交叉条形，用于纵向和轴向磁场。
型号：KSC-430 标准I试片，缺陷深度为试片厚度的30%，试片厚度为0.004英寸。
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