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法国Phasics的红外高分辨率波前分析仪
SID4 SWIR HR波前分析仪，0.9-1.7 μm超高采样分辨率
法国Phasics提供的SID4 SWIR HR红外高分辨率波前分析仪集成了InGaAs探测器和Phasics特殊的知识产权技术——四波横向剪切设计而成的。由于SID4 SWIR HR近红外波前分析仪的超高采样分辨率（160 x 128 phase pixels）和高灵敏度，可以精确的测量900 nm到1.7 μm的波前数据。短波红外波前传感器SID4 SWIR HR是一种创新的设计方案，它的镜头可以应用于光通信，仪器检测，军事或夜视监测等领域。
SID4 SWIR HR超高采样分辨率波前传感器的主要特点：
- 覆盖0.9-1.7 μm短波红外波段
- 160 x 128的高相位采样分辨率
- 高感光灵敏度，可适用于低功率红外光源测试
SID4 SWIR HR近红外波前分析仪的主要应用：
- 激光，自适应光学
- 光学元件及光学系统计量
- 等离子体检测
法国Phasics的红外高分辨率波前分析仪
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