三箱式温度冲击试验箱

三箱式温度冲击试验箱有三个试验空间，分为高温区、低温区和测试区，也称待测品不动式温度冲击试验箱，试样放在测试箱内进行高低温冲击试验，模拟产品经过温度的急剧变化造成的物理变化。用于检测根据元器件、部件及设备疲劳损伤引起的失效。产品性能符合MIL、IEC、GB、JIS、JEDEC等各种和企业检测标准，是应力筛选试验和环境适应性验证的*手段。

​三箱式温度冲击试验箱有三个试验空间，分为高温区、低温区和测试区，也称待测品不动式温度冲击试验箱，试样放在测试箱内进行高低温冲击试验，模拟产品经过温度的急剧变化造成的物理变化。用于检测根据元器件、部件及设备疲劳损伤引起的失效。产品性能符合MIL、IEC、GB、JIS、JEDEC等各种和企业检测标准，是应力筛选试验和环境适应性验证的*手段。

三箱式温度冲击试验箱标 准：

GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件；GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验A：低温；GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验B：高温；GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则；GJB 150.3A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验；GJB 150.4A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验；GJB 150.5A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验；

SETH能够提供有效容积50L至1000L的SET或SEL系列的温度冲击标准试验箱，也可以根据用户需求定制更大容积的冲击试验箱。该系列根据用户场地和不同的试验需求分为水平结构、垂直结构以及三箱式，该系列具备提供客户一箱多用功能，可以满足GJB150.5-2009中的两种试验方法。

冲击温度范围：-65℃~+200℃

温度恢复时间：≤ 5min

温度切换时间：≤10s

 

型号说明
SET：产品系列号      A\B\C：工作室容积（单位：L）

SEL：结构方式：L表示两箱提篮式     T：结构方式：T表示三箱式

3\4\5表示温度冲击范围；

型号(CM)		SET-A	SET-B	SET-C	SET-D	SET-G
内部尺寸		40×35×35	50×50×40	60×50×50	70×60×60	80×70×60
外部尺寸		140×165×165	150×190×175	160×190×185	170×240×195	180×260×200
结构		三厢式（预冷箱）（预热箱）（测试箱）
气门装置		强制的空气装置气门
内箱材质		SUS#304不锈钢
外箱材质		冷轧钢板静电喷塑
冷冻系统		机械压缩二元式 复叠制冷方式
转换时间		＜10Sec
温度恢复时间		＜5min
温度偏差		±2℃
温度均匀度		＜2℃
温度波动度		±0.5
冷却方式		水冷
驻留时间		30 min
温度范围	预热温度	+60～200℃（40min）
	高温冲击	+60～150℃
	预冷温度	+20℃～-80℃（70min）
	低温冲击	-10℃～-40℃/-55℃/-65℃
	温度传感器	JIS RTD PT100Ω × 3 (白金传感器)
	控制器	液晶显示触摸屏PLC控制器
	控制方式	靠积分饱和PID，模糊算法 平衡式调温P.I.D + P.W.M + S.S.R
标准配置		附照明玻璃窗口1套、试品架2个、测试引线孔1个
安全保护		漏电、短路、超温、缺水、电机过热、压缩机超压、超载、过电流保护
电源电压		AC380V 50Hz三相四线+接地线