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线性压电纳米位移台MF30系列 参考价：面议
线性压电纳米位移台MF30系列，大行程直线位移台，不仅拥有紧凑的安装尺寸，同时还兼具低温真空等应用环境，支持定制纳米位移台。
线性压电纳米位移台MF40-25A 参考价：面议
线性压电纳米位移台MF40-25A，大行程直线位移台，不仅拥有紧凑的安装尺寸，同时还兼具低温真空等应用环境，支持定制纳米位移台。
线性压电纳米位移台ML-15A 参考价：面议
线性压电纳米位移台ML-15A，大行程直线位移台，不仅拥有紧凑的安装尺寸，同时还兼具低温真空等应用环境，支持定制纳米位移台。
线性压电纳米位移台ML-23A 参考价：面议
线性压电纳米位移台ML-23A，大行程直线位移台，不仅拥有紧凑的安装尺寸，同时还兼具低温真空等应用环境，是小空间内大行程高精度的定位的优先选择产品。支持定制纳米...
低温恒温器系统 参考价：面议
低震动干式液氦光学低温恒温器系统，使用气体导热隔震，实现样品台纳米级的机械稳定性。为有效降低环境震动影响，产品设计安装在光学隔震平台上。
低温液氮探针台 LN-4H-06 参考价：面议
低温液氮探针台 LN-4H-06产品主要是由真空腔体、探针控制、显微镜模块、变温样品台、进口分子泵组、全旺程真空规、智能温控仪等组成。
手动探针台系统 参考价：面议
手动探针台系统，可测试晶圆尺寸:最大4英寸样品台行程:100mm*100mm移动分辨率:~0.1mm样品台旋转范围:360度低漏电底栅接口，标准Triax 输出...
ZP3-4 微纳探针台 参考价：面议
ZP3-4 微纳探针台包含4个压电三轴探针臂，每个三轴配备1个可拆卸式电学探针接口，可在毫米级尺度上进行宏观运动并实现纳米尺度上的微观运动。
SEM纳米探针台 参考价：面议
SEM纳米探针台产品实现了三维空间上的准确定位， 它具有分辨率高，尺寸紧凑，行程大，操作简单，能在真空下使用等优点，可应于SEM真空腔体内完成各种纳米精度运动操...
室温半自动探针台 TZ-H-06 参考价：面议
室温半自动探针台 TZ-H-06室温自动探针台，高可靠性探针台系统，主要应用在半导体/微电子， 电子，机电，物理，化学，材料，光电，纳米，微机电/MEMs，生物...
干式液氦温区探针台 LHe-6H-06 参考价：面议
干式液氦温区探针台 LHe-6H-06产品特点，真空腔体：真空度优于610-4 Pa。降温后优于610-5 Pa。留有2个用户法兰接口（KF40可接入气体或者额...
压电物镜NF100LA 参考价：面议
压电物镜NF100LA采用压电陶瓷驱动的纳米级物镜扫描台，内部使用无摩擦及空回的柔性较链导向机构，确保了扫描台优秀的运动精度。
超高真空微型光栅尺SMG26 参考价：面议
体积小、结构紧凑超高真空微型光栅尺SMG26特点，体积小，结构紧凑，适用于超高真空使用，良好的耐高温性，最高可达100℃，SMG26系列光栅的栅距为256μm，...
真空组件及配件 参考价：面议
真空组件及配件，各种类型都有，可定制真空馈通，本页面未找到您需要的产品请联系客服。
线性压电纳米位移台ML-37A 参考价：面议
线性压电纳米位移台ML-37A，大行程直线位移台，不仅拥有紧凑的安装尺寸，同时还兼具低温真空等应用环境，是小空间内大行程高精度的定位的优先选择产品。支持定制纳米...
多种旋转位移台 参考价：面议
多种旋转位移台可实现高精度及高分辨率的开环/闭环控制，适用于大气及真空环境下工作。
隧道显微镜 参考价：面议
扫描隧道显微镜STM（Ultrascan LT-100），扫描探针显微镜（STM）为代表的超高真空设备广泛应用于科学研究中，主要进行对表面有关或者在表面发生的所...
二维材料转移系统 参考价：面议
二维材料转移系统，可用于机械解理的各种二维材料的转移及二维材料范德华异质结的堆叠，尤其适用于二维材料的精准转角调控。
半自动、全自动台阶仪 参考价：面议
半自动、全自动台阶仪。JS100B提供两个彩色摄像头对样品和针尖同时成像，可无畸变的观察样品区，方便定位特征区域，同时探针扫描时可实时观察扫描区域。JS2000...
原位MEMS-STM-TEM多场测量系统 参考价：面议
MEMS-STM-TEMPicoFemto原位MEMS-STM-TEM多场测量系统，该产品是一种革命性的原位透射电子显微镜实验系统，使研究者可以在透射电子显微镜...
原位解决方案-高温力学测量系统 参考价：面议
原位解决方案-高温力学测量系统(定量力+电+三维操纵+加热）同时集成了力学测量模块及MEMS芯片模块，可以在对样品1000℃加热的同时进行定量的力学测量。实现了...
原位MEMS-TEM-STM多场测量系统 参考价：面议
原位MEMS-TEM-STM多场测量系统（非定量力+电+光+加热）是一种革命性的原位透射电子显微镜实验系统，使研究者可以在透射电子显微镜中构建一个可控的多场环境...
原位解决方案-光电性质测试系统 参考价：面议
原位解决方案-光电性质测试系统（非定量力+电+光+三维操纵）在标配TEM-STM样品杆内集成光纤单元，配合外接光谱仪或激光器实现光电测量或者CL测量。
原位解决方案-低温电学测试系统 参考价：面议
原位解决方案-低温电学测试系统（非定量力+电+低温+三维操纵）在标配TEM-STM样品杆内集成低温环境控制单元，从而实现在透射电镜中进行原位低温电学测量的目的。
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