OLED温度冲击箱 返回列表页

    OLED温度冲击箱又名OLED冷热冲击试验箱、OLED高低温冲击试验箱、温度冲击测试箱等。东莞科文荣幸为您推荐OLED温度冲击箱，作为冷热冲击试验箱中的一款新型的冲击试验箱，采用全新*的圆弧造型设计，高质感外观，美观大方，外采用优质雾面线条处理SUS304＃不锈钢板，内胆为进口（SUS304）优质镜面不锈钢板及平面无反作用把手，操作更容易，安全可靠；采用触控式彩色液晶显示人机接口控制器，操作简单、学习容易；温度控制精度高，全部采用PID自动演算制御；可选择始动位置，高温或低温开始循环，可选择二槽或三槽循环；具有预约起动功能，可设定循环次数及自动除霜；运转状态显示；可根据每种工况环境自动调节制冷量的大小，来达到节能降耗，延长设备的使用寿命；完备的安全装置：如异常状况发生时，均立即由屏幕显示异常或故障状态及切断电源，确保机器本身，被测产品及用户安全。

常用型号：

 KW-TS-50     内箱尺寸：350×350×400    外箱尺寸：1560×1750×1440

 KW-TS-80     内箱尺寸：500×400×400    外箱尺寸：1700×1800×1440

 KW-TS-100    内箱尺寸：600×400×400    外箱尺寸：1800×1800×1440

 KW-TS-150    内箱尺寸：600×500×500    外箱尺寸：1800×1900×1540

 KW-TS-250    内箱尺寸：700×600×600    外箱尺寸：1900×2000×1640

 KW-TS-480    内箱尺寸：800×800×750    外箱尺寸：2020×2250×2150

满足的试验标准：

GB/T2423.1-1989低温试验方法； 

GB/T2423.2-1989高温试验方法； 

GB/T2423.22-1989温度变化试验； 

GJB150.5-86温度冲击试验； 

GJB360.7-87温度冲击试验； 

GJB367.2-87 405温度冲击试验。 

SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式 

SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式 

IEC68-2-14_试验方法N_温度变化 

GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则 

GB/T 2423.22-2002温度变化 

QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则 

EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。

的适用范围：

   不仅仅适用于OLED相关材料及制品的测试，同时还可适用于：电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA基扳、电子芯片、IC半导体陶瓷及高分子材料。用于测试其材料对高、低温的反复热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密IC到重机械的组件，无一不需要它，是理想测试工具。温度冲击箱是用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经*温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，可作为其产品改进的依据或参考。

特点：

高低温冲击试验箱可选择二箱式或三箱式。

    二箱设备区分为高温区，低温区两部分，测试产品置于提篮中，冲击时提篮将测试产品移动进高温区或低温区进行冲击，测试产品为动态式。

     三箱设备区分为高温区，低温区，测试区三部分，测试产品*静止。采用*之蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，完成冷热温度冲击测试。可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，执行冷热冲击条件时，可选择二箱或三箱功能并具有高低温试验箱的功能。

     冷却采用二元冷冻系统，降温效果快速，冷却方式为水冷式。

    科文质量可靠，服务周到，！是东莞市科文试验设备有限公司强势推荐的一款新型技术的、冷热冲击试验箱、高低温冲击试验箱，免费送货上门，并安装调试操作介绍(直到需方员工独立操作并满意为止)。欢迎广大新老客户前来咨询订购：/ 刘珂