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徕卡偏光显微镜DM4P

徕卡偏光显微镜DM4P

：李

偏光显微镜是一种常用的光学仪器，主要用于研究所谓透明与不透明各向异性材料，在地质学等理工专业中有着重要的作用。偏光显微镜的特点是什么呢?下面小编就来具体介绍一下，希望可以帮助到大家。

偏光显微镜的主要特点

将普通光改变为偏振光进行镜检的方法，以鉴别某一物质是单折射(各向同性)或双折射性(各向异性)。双折射性是晶体的基本特性。因此，偏光显微镜被广泛地应用在矿物、化学等域，在生物学和植物学也有应用。

偏光显微是鉴定物质细微结构光学性质的一种显微镜。凡具有双折射性的物质，在偏光显微镜下就能分辨的清楚，当然这些物质也可用染色法来进行观察，但有些则不可能，而必须利用偏光显微镜。

偏光显微镜的特点，就是将普通光改变为偏振光进行镜检的方法，以鉴别某一物质是单折射性(各向同性)或双折射性(各向异性)。

双折射性是晶体的基本特征。因此，偏光显微镜被广泛地应用在矿物、高分子、纤维、玻璃、半导体、化学等域。在生物学中，很多结构也具有双折射性，这就需要利用偏光显微镜加以区分。在植物学方面，如鉴别纤维、染色体、纺锤丝、淀粉粒、细胞壁以及细胞质与组织中是否含有晶体等。在植物病理上，病菌的入侵，常引起组织内化学性质的改变，可以偏光显微术进行鉴别。

参数：

徕卡DM4P偏光显微镜

1） 总述

1 设备型号及名称：LEICA DM4500P研究级偏光显微镜系统。

2 LEICA DM4500P为研究级偏光显微镜，是徕卡历史悠久的制镜工艺和现代的数字化技术的*结合。该系统由徕卡DM4500P研究级偏光显微镜、高分辨率数字摄像头及相关软件组成。将让您体会到数字化智能显微镜操作的方便,可靠.方便的操作减轻了您的工作压力,使您能够把注意力*集中在样品的观察上.而不是显微镜的调节上.

2） 技术规格及功能说明

★1、DM4500P显微镜具备透/反射光观察功能.透射光:锥光.偏光.明场;反射光:明场,专业偏光观察功能，且同时具备观察、数码摄像功能，整机约重25KG。

2、DM4500P显微镜采用的第三代HC际标准无限远色差校正光学系统及复消色差校正光学系统，大限度地消除杂散光等干扰因素,提供高衬度、高分辩率的图像质量。和谐部件光路(HCS)系统:：所有光学部件和光路统一消色差设计；既保证单个光学部件的优品质,同时又达到仪器整体的和谐统一和优化。

3 、CCIC连续色温控制，不会因为电压波动和光强变化引起图像色温变化, 恒定色彩强度控制,可自动保持恒定的色彩温度,您不必使用附加的灰度滤片来补偿色温变化,其保证真实色彩且同时具备观察、数码摄像功能，LED液晶面板显示显微镜状态。(CCIC色温稳定系统为徕卡)

4、具备接驳热台、拉曼等设备的能力.

5、主机、物镜、中间光路、观察筒等所有部件均针对偏振光特性设计。

6、专业反射偏光起偏器带波长板(1波长-石膏板以及1/4波长云母板、石英楔、研究级可变倍勃氏镜)，偏光颜色更准确、丰富；

7、360°旋转精确刻度检偏器,准确把握消光角度

8、宽视野偏光专业三目镜筒，视场直径22mm，在22mm宽视场下能获得均匀清晰的图像。

9、配10X宽视野可调焦目镜2只，其中一只配10mm/100格目镜测微尺

10、配徕卡高分辨率5X、10X、20X、40x、50X、100X六个偏光专业物镜；5x NA=0.12; 10x NA=0.25; 20x NA=0.40; 40x NA=0.75；50x NA=0.75; 100x NA=0.85

11、六孔可调中心物镜转换器，保证六只物镜同时安装；

12、配置透射、反射日光平衡滤色片；

13、粗、细同轴调焦机构,含上限位装置,谐波齿轮,*下滑,调焦更为准确.

14、机械360度旋转载物台，带45度定位提醒功能：高科技超硬陶瓷材料表面，极耐磨损.配置样品移动器，操作灵活。

15、研究级科勒照明系统，透/反射LED双灯箱,寿命3万小时以上，保证提供足够照明，不发热减少热影响，与数字化自动视场光阑/孔径光阑联动；

16、自动化孔径光栏与视场光栏均可调，并有数字化显示系统，自动直接与物镜倍率和观察方式相对应，更方便、更准确的控制景深与衬度，使显微镜操作者更专注于自己的样品，减少人为调节带来的麻烦和误差，特别适合大工作量镜检。

17、偏光专业Smith反射器,增强偏光和明场视野亮度,镜像亮度大大提高,颜色反差更为真实.

18、显微镜专业数码照相装置原厂专业级的徕卡500万像素数码摄像头。它具有500万像数的2/3英寸高敏感度CCD。它具有R/G/B各12 bit的动态范围， 使图像色彩更自然、逼真。,使显微图像达到的对比度，可选择1200万像素输出。

19、原产0.63倍数码光学接口,具有高亮度、均匀、视场宽大平坦、无畸变及色差的优异效果。

20、专业软件：层深长度、相含量、颗粒形态；影像测量；目标颗粒自动寻边；图像处理功能；分割测量；形态学分析功能；内嵌景深叠加/拼图/3D显示功能