同轴光体视显微镜/纺织品检验同轴光体视显微镜 返回列表页

PXS8-Te同轴光体视显微镜   适用于电子线路板、芯片封装、珠宝鉴定、研相矿本分析、微小密零件品质控制、装配、*、银行痕迹对比、教学示范、临床手术样本、农业选种，纺织品检验、养殖业品种优选、病理分析。
 

PXS8-Te同轴光体视显微镜    特点：
PXS8-Te来自美的，目前内仅有的高倍立体显微镜，我们采用和外同步的同轴光技术，以满足对透明封装后的芯片特殊检测标准的使用要求。
品质优良的光学系统使图像更明亮，即使长时间观测眼睛也不会疲劳。
粗微动的调焦应用在高倍体视上，使高倍调焦变得更加。
多种支架的选配，总能满足复杂工位的操作要求。
还有各种光谱光源的配合，帮助解决碰到的困难。

PXS8-Te同轴光体视显微镜    主要技术参数
镜筒：双目，45度倾斜
高眼点大视野目镜：PLAN10X/20 mm
物镜：0.9X-7.4X
变倍比：1：8.2
总放大倍数：9-74X
调焦：粗微动调焦，粗动立杆高度300mm，升降范围105mm
工作距离：102mm

光源:同轴光.