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供货周期 | 一个月以上 | 应用领域 | 电子,电气 |
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ITECH艾德克斯IT2801高精密源测量单元
5寸触摸显示屏,使源表具有出色的图形用户界面以及各种显示模式,帮助工程师显著提高测试效率。广泛应用于分立半导体器件、功率芯片、无源器件、光电器件、微功耗量测以及材料研究等领域。
ITECH艾德克斯IT2801高精密源测量单元
六合一高精密SMU、降低您的测试成本
传统的半导体I-V特性测量方案通常是复杂且成本昂贵的,需要多种仪器配合完成测试,如电压/电流源,脉冲发生器,高精密电压/电流表等。不仅占用有限的测试台架空间,同时工程师需要编程实现多台设备的控制及同步,才能确保测试结果的准确度。IT2800系列SMU为工程师提供了一种即经济又高效的解决方案。它集六种设备功能于一体,将不同输出和测量能力整合到紧凑的1/2 2U尺寸中,可精确地输出电压或电流以及同时测量电压和/或电流。它兼具以下仪器的功能:
直观的图形化显示,快速获取产品特性
IT2800系列SMU的前面板有许多功能,以提高交互式使用的速度,用户友好性和易操作性。这些功能包括5英寸彩色LCD触摸显示屏,USB 2.0 memory I/O端口、一个旋转导航按钮、trigger按键、功能按键以及主流的香蕉插座。USB2.0内存端口支持轻松的数据存储,测试配置文件导入以及系统升级。IT2800提供图形化和数字化两种测量结果显示模式,直观的graph view,scope view以及record view视图,极大地提高了台架测试和I-V特性分析的效率。直观的图形化显示,快速获取产品特性Record view 记录仪视图允许用户查看一段时间内的历史波形和table数据,采样时间间隔最小为100us,最多可记录100万点数据。它还支持导出到电子表格(.CSV),以便进一步分析,极大提高测试调试和debug的效率。示波视图是在测试过程中实时绘制I-t或V-t曲线,最多可以捕获和导出600000点的数据,且该功能不受其他功能影响,可以独立同时运行。示波模式下,采样率最高可达100000 points/s(10us),有利于测试人员监测低频瞬态信号。Scope viewGraph view 图形视图是在XY图上显示测量结果(如I-V和I-t/V-t曲线),这有利于快速评估器件特性,特别是那些从扫描测量
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