高频LCR数字电桥   型号：DL-TH2826A

性能特点
■ 国内台符合LXI标准的LCR表
■ 测试频率20Hz～5MHz，10mHz步进
■ 测试电平10mV～5V, 1mv步进
■ 基本准确度0.1%
■ 达200次/s的测量速度
■ 320×240点阵大型图形LCD显示
■ 五位读数分辨率
■ 可测量22种阻抗参数组合
■ 四种信号源输出阻抗
■ 10点列表扫描测试功能
■ 内部自带直流偏置源
■ 外置偏流源至40A（配置两台TH1776）（选件）
■ 电压或电流的自动电平调整（ALC）功能
■ V、I测试信号电平监视功能
■ 图形扫描分析功能
■ 20组内部仪器设定可供储存/读取
■ 内建比较器,10档分选及计数功能
■ 多种通讯接口方便用户联机使用
■ 2m/4m测试电缆扩展（选件）
■ 中英文可选操作界面
高频LCR数字电桥 简要介绍
■TH2826系列元件测试仪是国内台符合LXI标准的新
一代阻抗测试仪器，其0.1%的基本精度、20Hz～5MHz
的频率范围可以满足元件与材料大部分低压参数的测量
要求，可广泛应用于诸如传声器、谐振器、电感器、陶瓷
电容器、液晶显示器、变容二管、变压器等进行诸多电
气性能的分析及低ESR电容器和高Q电感器的测量。
■TH2826系列产品高速的测试速度使其特别适用于
自动生产线的点检机，压电器件的频率响应曲线分析等
等。其多种输出阻抗模式可以适应各个电感变压器厂家
的不同标准需求。
■TH2826系列产品以其的性能可以实现商业标准和军
用标准如IEC和MIL标准的各种测试。
 广泛的测量对象
无源元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、
芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
半导体元件：变容二管的C-VDC特性；晶体管或集成电路
的寄生参数分析
其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻
抗评估
介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗
角评估
半导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性
液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性
TH2826/TH2826A
技术参数
测试参数C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR
测试频率
TH2826 20 Hz～5MHz,10mH步进
TH2826A 20 Hz～2MHz,10mH步进
测试信号电
平
f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）
f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV）
输出阻抗10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
基本准确度0.1%
显示范围
L 0.0001 uH ～ 9.9999kH
C 0.0001 pF ～ 9.9999F
R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ
Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S
D 0.0001 ～ 9.9999
Q 0.0001 ～ 99999
θ -179.99°～ 179.99°
测量速度快速: 200次/s（f﹥30KHz）,100次/s（f﹥1KHz）
中速: 25次/s, 慢速: 5次/s
校准功能开路 / 短路点频、全频清零，负载校准
等效方式串联方式, 并联方式
量程方式自动, 保持
显示方式直读, Δ, Δ%
触发方式内部, 手动, 外部, 总线
内部直流偏
置源
电压模式
-5V ～ +5V,
±（10%+10mV）, 1mV步进
电流模式（内
阻为50Ω）
-100mA ～ +100mA,
±（10%+0.2mA）,20uA步进
比较器功能10档分选及计数功能
显示器320×240点阵图形LCD显示
存储器可保存20组仪器设定值
接口
USBDEVICE（ USBTMC and USBCDC support）
USBHOST（FAT16 and FAT32 support）
LAN（LXI class C support）
RS232C
HANDLER
GPIB（选件）

产品名称： SDI仪 污染指数检测仪 SDI污染指数测定仪  产品型号：SDI 铝合金过滤器

 SDI仪 污染指数检测仪 SDI污染指数测定仪 型号： SDI 铝合金过滤器

SDI测试仪使用说明书 
一、产品说明：  
污染指数测试仪(SDI仪)； 
测试范围：0-6.7SDI单位； 
堵塞因子范围：1-100%； 
进水接口：1/2英寸外丝快速接头； 
进水压力：65-100 psi (4.5-6.9 bar)。 
    本产品主要用于反渗透系统中SDI（污染指数）值的测定，严格按照美国ATME标准生产。用来测试水（液体）在一定压力下，通过滤膜，过滤流量衰减情况来计算SDI值。 
    产品备件齐全，供应及时。服务周全到位，产品技术支持由美国及中国的专家提供。该仪器的计量测试数据精确，验证重复率高。 
二、SDI（污染指数）值检测及计算方法:  
    1、将SDI测试仪安装在RO系统的测试位置上。如果测试点在预处理系统后，那么当测试SDI值时，RO系统应该正常运行，否则Z后的测试结果就会无效。  
    2、开始时，SDI测试仪内不能放0.45μm微孔过滤膜。  
    3、测试仪连接完成后，打开测试仪上的阀门，让被测水直接流过测试仪几钟。       
    4、关上阀门，用镊子放一张Ф47mm，精度0.45μm的微孔过滤膜（亮的一边朝上）在测试仪的膜盒支撑板上并轻轻地压紧“0”型圈及膜盒上盖，拧上螺丝，但不要太紧。  
    5、将阀门打开一部分，当水流过测试仪时，慢慢旋松一个或两个螺丝，让水漫出测试仪，以逐出测试仪内的空气。  
    6、确定测试仪内已经没有空气了，轻轻旋紧螺丝。*打开阀门，将减压阀压力调节到0.21MPa　（207KPa），保持住该压力，关上阀门。整个测试期间，压力必须保持不变。  
    7、用合适的容器收集水样本。只要保证每次用同样的容量测试，容量的大小并不重要。容量可在100到500毫升之间。不同的容器都可用：例如量筒、大口杯等，一般考虑收集500毫升水样。  
    8、*打开阀门，用秒表测量收集500毫升水样所需要的时间，并记录为T（1）＝__秒。收集完后，仍继续保持阀门打开，让水继续流出。  
    9、过5分钟后再用秒表测量收集另一个500毫升水样所需要的时间并记录为T（5）＝__秒，过10及15分钟后各做一遍同样的测试并分别记录为T（10）和T（15）。检测结束后，SDI值就能被计算出来。有些水样数据采样可能要求延续到T（20），T（30）甚至T（60），当然这种水样是少数的。  
    10、测定水温。在整个测试期间，水温必须保持*。  
    11、SDI值由下列公式计算得出： SDI＝100P30／Tt＝100（1—T1／T2）／Tt  
P30——在207kpa进水压力下的堵塞指数，即（1—T1／T2） 
Tt总测试时间（分）通常为T15，此时P30＜75％，不然测试T10或T5，使此时的P30＜75％ 
T1——初始时收集500ml水样所需的时间（秒） 
T2——经T1（通常为T15，即15分钟）后收集500ml水样所需的时间（秒）。