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Surfix PF铁基统计型测厚仪
- 公司名称：
- 更新时间：
- 所 在 地：
- 生产地址：
- 浏览次数：
- 北京京海佳业科贸有限公司
- 2022-03-23 15:51:05
- 北京市
- 1011
【简单介绍】
【详细说明】
Surfix PF内置探头铁基统计型测厚仪
特点：
l 碳化钨超耐磨测头,快反应速度
l 同屏显示数据统计值
l 可存储前80个测值
l 可测铁基体上涂镀层
l 量程1500μm,精度±1μm+1%读数
l 分辨率0.1μm.背景光
l 有红外可接PC及打印机
技术参数：
测量范围 | 0-1500µm,0 - 60mils |
误差 | ±（1µm+1%读数） |
分辨率 | 0.1µm或小于读数的2% |
显示 | 背光，字母加数字，10mm高，4位数字显示 |
基体小面积 | 5mmX5mm |
基体小曲率 | 凸面:1.5mm 凹面:50mm |
基体小厚度 | F型：0.5mm ,N型：50µm |
校准 | 厂家校准，零校准，校准箔校准 |
数据统计（仅限统计型） | 读数个数（多9999个），平均值，标准偏差，大值和小值 |
数据存储（仅限统计型） | 多80个测量数值,可单独调出 |
数据值（仅限统计型） | 上下限可调,声音报警 |
数据接口 | 红外通讯,IrDA标准 |
环境温度/表面温度 | 0-50℃/60℃（可选配150℃） |
电源 | 2节1.5伏七号碱性电池 |
仪器尺寸 | 107X50X25mm |
符合标准 | DIN，ISO，ASTM，BS |
操作语言 | 英语、德语或法语 |
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