高低温储存试验箱HTST

高低温储存试验箱HTST概述

1.High Temperature Storage Life Test主要通过温度150℃、-40℃～+85℃、-55℃～+85℃及在1.1VCC动态测试条件，对IC产品进行高低温循环试测试、冷热循环测试、温度循环测试、高低温交变测试、高低温恒定测试、高低温操作测试、高低温储存测试，是IC芯片封装、半导体元器件、集成电路、PCB板、手机芯片、CPU芯片做可靠性测试与质量鉴定。每次程式试验时间为1000～2000小时，检测其IC产品化学和扩散效应、Au-Al共金效应、电子迁移、氧化层破裂、相互扩散、不稳定性、离子玷污等，评估IC产品在实际使用之前在高低温条件下保持几年不工作条件下的生命时间。

2.控制系统优势：中英文菜单式人机对话操作方式，有开机自检功能、温度线性校正、自动停机、系统预约定时启动功能；实现工业自动化，带数据交互功能，能与客户主机链接实现远程监控，了解设备运行状态，可以通过任何移动终端监控。

高低温储存试验箱HTST性能参数

1.温度范围：-40℃～+150℃；-50℃～+150℃；-60℃～+150℃；-70℃～+150℃。（高温可定制：+250℃）

2.重点测试温度范围：-40℃～+85℃；-40℃～+120℃；-50℃～+150℃、-65℃～+150℃。（可根据试验要求选择温度范围）

3.试验测试方式：高低温循环试验、冷热循环试验、高低温恒定试验、高低温交变试验、高低温储存试验、高低温操作试验。

4.温度稳定度：±0.3℃。

5.温度均匀度：±1.5℃。

6.升温速率：3℃～4℃/min平均值。（可定制温变速率为：5℃/min；10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min，线性与非线性温变。）

7.降温速率：0.7℃～1℃/min平均值。（可定制温变速率为：5℃/min；10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min，线性与非线性温变。）

8.制冷系统：*压缩机及制冷配件模块化机组设计，方便日常维护与保养。

9.制冷方式：机械压缩单级制冷或二元复叠制冷（风冷或水冷）。

10.加热系统：进口SUS304#不锈钢鳍片式耐热、耐寒加热管，加热空气式控温。

11.节能方式：冷端PID调节（即加热不制冷，制冷不加热），比平衡调温方式节能30%。

12.标准配置：观测窗一个；LED视窗灯一支；保险管2支；物料架2套。

13.噪音处理：整机运行时≤60dB（*），满足万级高精无尘环境车间制备工艺需求。

14.前端空气经干燥过滤器处理，产品测试区及附近无明显结露现象。设备可以连续运转不需进行除霜。

15.保护装置：压缩机过载、过流、超压保护、漏电保护、内箱超温保护、加热管空焚保护。

16.电源：AC220V(三线制）±10% 或 AC380V（五线制）±5%。

高低温储存试验箱参考标准

1.MIT-STD-883E Method 1010.7。

2.JESD22-A104-A。

3.EIAJED- 4701-B-131。

4.MIT-STD-883E Method 1005.8。

5.JESD22-A108-A。

6.EIAJED- 4701-D101。

7.MIT-STD-883E Method 1008.2。

8.JESD22-A103-A。

9.EIAJED- 4701-B111。