半自动划片机/切片机（6英寸） 参考价：面议
适用于 6 英寸晶圆– 6 英寸硅晶圆– 紧凑尺寸的占地面积（宽 x 深 = 590 x 880）– 多处安装划片可划片的样品： 硅晶圆， PCB， QFN， ...
半自动划片机/切片机 （8英寸，12英寸） 参考价：面议
半自动划片机/切片机 （8英寸，12英寸）– 最大 16 英寸– 重复精度（Y 轴） ： 0.001– 可选 3 英寸刀片、BBD（刀片断裂检测仪）、NCS（非...
半自动划片机/切片机（12英寸，16英寸） 参考价：面议
双刀片半自动划片机/切片机（12英寸，16英寸）– 最大 16 英寸 （300mm x 300mm）– 真空卡盘：300mm x 300mm 方形
全自动划片机/切片机（6-8英寸，12英寸） 参考价：面议
全自动划片机/切片机（6-8英寸，12英寸）– 最大 12 英寸硅晶圆– 真空吸盘：6~12英寸可切割材料：硅晶圆、QFN、陶瓷、印刷电路板、石英、LED、移动...
校准晶圆标准品 参考价：100000
污染晶圆标准品、校准晶圆标准品和二氧化硅颗粒晶圆标准品使用颗粒沉积系统生产，该系统将首先使用差分迁移率分析仪（DMA）分析PSL尺寸峰或二氧化硅尺寸峰。DMA是...
表面光电压谱 参考价：面议
表面光电压谱进行专业研究时，SPV010或者SPV020表面光电压谱系统作为开尔文探针系统的升级配件，匹配共同工作。150瓦直流可控光强的石英卤素灯可以达到开路...
英国KP开尔文探针扫描 参考价：面议
英国KP开尔文探针扫描是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数（Work Function）或半导体、绝缘表面的表面势（Surface Poten...
界面力学分析仪 参考价：面议
界面力学分析仪可以用来直接测量表面（诸如：无机物，金属，氧化物，聚合物，玻璃，生物分子界面等）间静态力和动态力，并在分子级领域内研究界面和薄膜现象。模块化的设计...
飞行时间二次离子质谱1 参考价：面议
飞行时间二次离子质谱1是一种非常灵敏的表面分析技术。可以广泛应用于物理，化学，微电子，生物，制药，空间分析等工业和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面，薄膜，...
大气环境光电子发射光谱 参考价：面议
大气环境光电子发射光谱1、大气环境下使用2、功能：光电子发射光谱+开尔文探针3、测试能级：费米能级，导带底能量，价带顶能量，HOMO-LUMO，禁带宽度，功函数...
俄歇电子能谱及低能电子衍射分析系统 参考价：面议
俄歇电子能谱及低能电子衍射分析系统电子枪：型号 ：带可调焦距和束斑直径的双静电透镜束流电压：0-3KV束流电流：大50uA束流直径：大800um灯丝：钨灯丝磁罩...
表面光电压谱系统 参考价：面议
表面光电压谱系统150瓦直流可控光强的石英卤素灯可以达到开路电位来评估卷对卷硅太阳能电池的质量，全数字化控制所有参数，包括光照强度和波长，该系统对样品的质量，表...
KP Technology扫描开尔文探针 参考价：面议
KP Technology扫描开尔文探针非破坏性振动电容装置,用于测试导电材料的功函或半导体材料表面的表面电势，表面功函。由材料表面顶部的1-3层原子或分子决定...
超高真空开尔文探针 参考价：面议
超高真空开尔文探针开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置用于导电材料的功函或半导体或绝缘体材料表面的表面电势，
气氛可控开尔文探针 参考价：面议
气氛可控开尔文探针RHC020 气氛控制扫描开尔文探针是控制气氛检测样品的理想解决方案，50x50mm样品加热器可将样品温度升至100℃，采用先进的电子和硬件系...
深能级瞬态谱仪1 参考价：面议
深能级瞬态谱仪1半导体领域研究和检测半导体杂质、缺陷深能级、界面态等的重要技术手段。根据半导体P-N 结、金－半接触结构肖特基结的瞬态电容（△C～t）技术和深能...
单点开尔文探针 参考价：面议
单点开尔文探针因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界高分辨率的测试系统。
皮可安培计 参考价：面议
皮可安培计技术参数：接口输入: BNC; 模拟输出: Banana jacks偏压选项：无偏压/ 内置偏压 （± 90 V DC）/ 外置偏压 （BN...
质子转移反应飞行时间质谱仪 参考价：面议
质子转移反应飞行时间质谱仪同时还可应用真正的涡度相关法（eddy-covariance）技术，扩展到对构成和诱导生物挥发性有机化合物（VOCs）进行生态系统通量...
飞行时间二次离子质谱 参考价：面议
飞行时间二次离子质谱是一种灵敏的表面分析技术，可以广泛应用于物理，化学，微电子，生物，制药，空间分析等工业和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面，薄膜，界面以...
皮可安培计（USB接口） 参考价：面议
皮可安培计（USB接口）技术参数：接口输入: BNC; 模拟输出偏压选项：无偏压/ 内置偏压 （± 90 V DC）/ 外置偏压 （BNC）
深能级瞬态谱仪 参考价：面议
深能级瞬态谱仪是半导体领域研究和检测半导体杂质、缺陷深能级、界面态等的重要技术手段！测试功能：电容模式、定电容模式、电流模式、（双关联模式）、光激发模式、FET...
光电子发射和低能量电子显微镜 参考价：面议
产品规格（PEEM）br成像模式: 热离子及光发射显微技术， 光谱成像及能量分析分辨率Resolution:观测视野: 2 - 150 µm初始压力:...
开尔文探针扫描系统 参考价：面议
开尔文探针扫描系统是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potenti...
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