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*.该仪器参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于 测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命；
*.测试单晶电阻率范围： >0.3Ω.cm；
*.可测单晶少子寿命范围： 1μS-10000μS；......
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产品简介
详细介绍
单晶少子寿命测试仪 LY.4-LT-3 特点:
*.该仪器参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于 测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命；
*.测试单晶电阻率范围： >0.3Ω.cm；
*.可测单晶少子寿命范围： 1μS-10000μS；
*.配备光源类型：红外光源，波长：1.09μm；
余辉<1 μS；闪光频率为：20-30次／秒；
*.前置放大器：放大倍数约25；
*.测量方式：采用对标准曲线读数方式；