奥林巴斯BX53P偏光显微镜的特点特征 返回列表页

奥林巴斯BX53P偏光显微镜的特点特征

奥林巴斯BX53P在偏振光应用中，采用了光学校正和光学设计相结合的方法，可提供优良的偏振光应用性能。一条扩展的兼容的生产线使其具有足够的通用性来处理几乎任何领域的观测和测量应用。可选的补偿测量等全系列的众多优秀功能。BX53P足以应付在几乎所有的领域观察和测量应用。

奥林巴斯BX53P偏光显微镜的特点特征：

UIS2系统：可以防止光学显微镜性能的恶化，消除影响因素，即使是在光路中引入了类似的光学元件，如暗片等。保持高度的系统灵活性，BX53P还接受中间附件，可用于副系列系统，以及相机和成像系统。

设计的机身：精密的设计和制造技术应用于-P和-P目标降低内部应变.粉末冶金显微镜具有高EF值滤光片和分析器，使图像对比度更高。为了满足研究和应用的多样性要求，设计了普适的-P系列目标，以适应除偏振光观测之外的范围广泛的观察方法，包括转制方法和荧光显微镜方法。

范围广泛的补偿器：六种不同的可用于普通-P显微镜，允许测量不同的亚单位水平，范围从0到20λ。为了便于测量，更高的图像对比度可以通过使用更高或更高的等级来改变整个视场中的更高的图像对比度。

锐利的显微成像：以U-CPA为观察依附，复律与观察之间的关系简单、快速.图像对焦简单、准确。使用一个更好的场停止使得获得一致的清晰的图像成为可能。

坚固准确的转台：附在旋转台上的旋转机构允许试样平稳旋转.此外，在每45度有一个点击停止机构提供精确的测量.随着增加一个双机械阶段的选择，进一步的X-Y运动是可能的。

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