抗干扰介质损耗测试仪 返回列表页

抗干扰介质损耗测试仪

一、概述

抗干扰介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗，（tgδ）和电容容量（Cx）它淘汰了 QS 高压电桥，具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压、抗干扰能力强、测试时间（在国内同类产品中速度zui快）等特点。体积小、重量轻是我厂的第二代。

二、技术指标 

  1、试验环境温度：10℃～30℃（LCD液晶屏应避免长时间日照） 

  2、相对湿度：20%～80% 

  3、供电电源：电压：220V±10%，频率50±1Hz 

  4、外形尺寸：长*宽*高=470mm*320mm*360mm 

  5、重量：18kg 

  6、输出功率：1.5KVA 

  7、显示分辨率：3位、4位（内部全是6位） 

  8、测试方法：正接法、反接法、外接试验电压法

  9、测量范围：内接试验电压：

tgδ：99.9%

Cx ：30 pF＜Cx（10KV）＜60000 pF

10KV  Cx＜60000 pF

5KV   Cx＜80000 pF

2.5KV  Cx＜0.3uF

外接试验电压：

由外接试验变压器输出功率而定 

 10、基本测量误差：介质损耗（tgδ）：1%±0.09%  

电容容量（Cx）：1.5%±1pF

 11、分辨率： tgδ：0.01%   

Cx ：0.1pF

三、结构 

仪器为升压与测量一体化结构，输出电压2.5KV～10KV五档可调，以适应各种需要，在测量时无需任何外部设备。接线与QSI电桥相似，但比其方便。