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TT230涡流测厚仪TT230氧化膜测厚仪

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  • 型号 TT230涡流测厚仪TT230氧化膜测厚仪
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  • 厂商性质 生产商
  • 所在地 合肥市
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更新时间:2016-04-11 14:10:45浏览次数:1402

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产品简介

欢迎光临本公司,品种齐全,*,详谈!!
:张传学
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:zcx1819
:http://www.ah17.com

本公司要主要有:
投影仪、硬度计、粗糙度仪、金相分析设备、涂镀层测厚仪、影像测量仪、工具显微镜、量具、卡尺、量块等。

详细介绍

TT230涡流测厚仪TT230氧化膜测厚仪

 
TT230涡流测厚仪TT230氧化膜测厚仪涂层测厚仪概述
TT230涡流测厚仪|氧化膜测厚仪是一种超小型测量仪,它能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量;可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域;该仪器体积小、测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。
 
TT230涡流测厚仪TT230氧化膜测厚仪符合以下标准:
 
GB/T 4957-1985 涡流方法
JJG 818-93 《电涡流式测厚仪》
JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪
TT230涡流测厚仪TT230氧化膜测厚仪功能特点:
采用了涡流测厚法,可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度
(如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层)
可进行零点校准及二点校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正
具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)
具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据
设有五个统计量:平均值、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差
具有米、英制转换功能
具有打印功能,可打印测量值、统计值
具有欠压指示功能
操作过程有蜂鸣声提示
具有错误提示功能
具有自动关机功能
TT230涡流测厚仪TT230氧化膜测厚仪参数:
测头类型:N
测量原理:电涡流
测量范围: 0-1250um | 0-40um(铜上镀铬)
低限分辨力:1µm(10um以下为0.1um)
探头连接方式:一体化
示值误差:
一点校准(um):±[3%H+1.5]
两点校准(um):±[(1%~3%)H+1.5]
TT230涡流测厚仪TT230氧化膜测厚仪测量条件:
zui小曲率半径(mm):凸3 | 凹10
基体zui小面积的直径(mm):ф5
zui小临界厚度(mm):0.3
温湿度:0~40℃ | 20%RH~90%RH
统计功能:平均值、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差
工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)
上下限设置:无
存储能力:15个测量值
打印/连接计算机:可选配打印机/能连接电脑
关机方式:自动
电源:二节3.6V镍镉电池
外形尺寸:150×55.5×23mm
重量:150g
TT230涡流测厚仪TT230氧化膜测厚仪基本配置:
主机
铝基体
标准片一套
充电器
使用说明书
TT230涡流测厚仪TT230氧化膜测厚仪可选附件:
TA230打印机
TT230涡流测厚仪TT230氧化膜测厚仪
 
TT230涡流测厚仪TT230氧化膜测厚仪涂层测厚仪概述
TT230涡流测厚仪|氧化膜测厚仪是一种超小型测量仪,它能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量;可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域;该仪器体积小、测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。
 
TT230涡流测厚仪TT230氧化膜测厚仪符合以下标准:
 
GB/T 4957-1985 涡流方法
JJG 818-93 《电涡流式测厚仪》
JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪
TT230涡流测厚仪TT230氧化膜测厚仪功能特点:
采用了涡流测厚法,可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度
(如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层)
可进行零点校准及二点校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正
具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)
具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据
设有五个统计量:平均值、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差
具有米、英制转换功能
具有打印功能,可打印测量值、统计值
具有欠压指示功能
操作过程有蜂鸣声提示
具有错误提示功能
具有自动关机功能
TT230涡流测厚仪TT230氧化膜测厚仪参数:
测头类型:N
测量原理:电涡流
测量范围: 0-1250um | 0-40um(铜上镀铬)
低限分辨力:1µm(10um以下为0.1um)
探头连接方式:一体化
示值误差:
一点校准(um):±[3%H+1.5]
两点校准(um):±[(1%~3%)H+1.5]
TT230涡流测厚仪TT230氧化膜测厚仪测量条件:
zui小曲率半径(mm):凸3 | 凹10
基体zui小面积的直径(mm):ф5
zui小临界厚度(mm):0.3
温湿度:0~40℃ | 20%RH~90%RH
统计功能:平均值、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差
工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)
上下限设置:无
存储能力:15个测量值
打印/连接计算机:可选配打印机/能连接电脑
关机方式:自动
电源:二节3.6V镍镉电池
外形尺寸:150×55.5×23mm
重量:150g
TT230涡流测厚仪TT230氧化膜测厚仪基本配置:
主机
铝基体
标准片一套
充电器
使用说明书
TT230涡流测厚仪TT230氧化膜测厚仪可选附件:
TA230打印机
 

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