E+H雷达物位计热卖

E+H雷达物位计发射功率很低的极短的微波通过天线系统发射并接收。雷达波以光速运行。运行时间可以通过电子部件被转换成物位信号。一种特殊的时间延伸方法可以确保极短时间内稳定和精确的测量。即使存在虚假反射的时候，的微处理技术和软件也可以准确地分析出物位回波。通过输入容器尺寸，可以将上空距离值转换成与物位成正比的信号。仪表可以空仓调试。在固体测量中的应用可以使用K-频段的高频传感器。

e+h雷达物位计发射功率很低的极短的微波通过天线系统发射并接收。雷达波以光速运行。运行时间可以通过电子部件被转换成物位信号。一种特殊的时间延伸方法可以确保极短时间内稳定和精确的测量。即使存在虚假反射的时候，的微处理技术和软件也可以准确地分析出物位回波。通过输入容器尺寸，可以将上空距离值转换成与物位成正比的信号。仪表可以空仓调试。在固体测量中的应用可以使用K-频段的高频传感器。由于信号的聚焦效果非常好，料仓内的安装物或仓壁的粘附物都不会影响测量。
恩格斯豪斯雷达物位计FMR240系列连续的非接触式物位测量仪表。
经济的4 - 20 mA 两线制技术，适用于危险区域。
Micropilot M FMR240系可用于对液体、浆料、淤泥和固了进行连续的非接触式物位测量。测量不受介质改变、温度变化、气层或蒸汽的影响。FMR240具有小尺寸的40mm(1½") 喇叭天线，非常适合于小型容器中的物位测量，其测量精度可达±3 mm (±0.12 in).

恩格斯豪斯雷达物位计FMR240系列优点
经济的两线制技术:
是差压、浮子和浮筒式物位计的可靠替代品。
采用两线制技术，有效的降低布线成本，且易于实现与现有系统的集成
非接触式测量
测量几乎不受介质特性影响.
通过数文引导式菜单轻松进行现场操作.
通过Endress+Hauser的操作软件便于进行仪表调试、文件编制和故障诊断
频率范围采用C波段
支持HART 或PROFIBUS PA以及FF基金会现场总线协议
用于物位监测(MIN, MAX) ，符合 IEC 61508/IEC 61511-1标准的要求，通过了SIL 2认证
恩格斯豪斯雷达物位计测量条件：
注意事项l 测量范围从波束触及罐低的那一点开始计算，但在特殊情况下，若罐低为凹型或锥形，当物位低于此点时无法进行测量。
l 若介质为低介电常数当其处于低液位时，罐低可见，此时为保证测量精度，建议将零点定在低高度为C 的位置。
l 理论上测量达到天线*的位置是可能的，但是考虑到腐蚀及粘附的影响，测量范围的终值应距离天线的*至少100mm。
l 对于过溢保护，可定义一段安全距离附加在盲区上。
l zui小测量范围与天线有关。
l 随浓度不同，泡沫既可以吸收微波，又可以将其反射，但在一定的条件下是可以进行测量的。

E+H导波雷达物位计的微波脉冲沿着一根缆、棒或包含一根棒的同轴套管运行，接触到被测介质后，微波脉冲被反射回来，并被电子部件接收，并分析计算其运行时间。微处理器识别物位回波，分析计算后将它转换成物位信号给出。由于测量原理简单，可以不带料调整，从而节省了大量调试费用。测量缆或棒可以截短，使之更加适应现场的应用。对于蒸汽不敏感，即使在烟雾、噪音、蒸汽很强烈的情况下，测量精度也不受到影响。不受介质特性变化的影响，被测介质的密度变化或介电常数的变化不会影响测量精度。粘附：没有问题，在测量探头或容器壁上粘附介质不会影响测量结果。容器内安装物如果采用同轴套管式的测量*不受容器内安装物的影响，不需要特殊调试。可以提供不同形式的探头用于不同应用：缆式，用于测量液体介质或重量大的固体介质，量程可达60米；棒式，用于测量液体介质或重量轻的固体介质，量程可达6米；同轴套管，用于测量低黏度的介质，不受过程条件的影响，量程可达6米。
e+h雷达物位计采用微波脉冲的测量方法，并可在工业频率波段范围内正常，波束能量低，可安装于各种金属、非金属容器或管道内，对液体、浆料及颗粒料的物位进行非接触式连续测量。适用于粉尘、温度、压力变化大，有惰性气体及蒸汽存在的场合。雷达物位计对人体及环境均无伤害，还具有不受介质比重的影响，不受介电常数变化的影响，不需要现场校调等优点，不论是对工业需要，还是对顾客经济实惠的考虑，都是不错的选择。