EDX系列x荧光光谱仪 返回列表页

EDX系列x荧光光谱仪，能量色散X射线荧光光谱仪应用于RoHS & WEEE指令分析、各种金属膜厚度测量、工业镀层厚度测量、卤素指令Cl元素分析、矿石、原材料成份分析等、磁性磁性介质和半导体以及各种合金、贵金属成份分析.
EDX系列x荧光光谱仪主要特点
●分析元素范围　S-U

●分析元素的浓度范围　2ppm—100%
●整机稳定性连续8小时测RSD<0.25%
● ROHS/WEEE检测时间100-120秒

●美国进口电制冷Si（Pin）探测器

●电制冷Si（Pin）探测器 晶体面积15mm2分辨率<155eV
●全数字脉冲处理器技术

●优异的峰背比、*的痕量分析灵敏度

● 50KV,50W自防护X-射线管

●复合滤光片智能切换技术

特征：

☆可分析精确分析氯元素和油漆中的铅

☆集成FP法，Alpha系数法、经验系数法

☆安全联动装置，软硬结合的辐射设计

☆操作简单、一键式操作

☆智能软件自动参数设定和选择滤光片

☆ X射线管超温保护

☆电子冷却，无需液氮和其它耗材

技术规格