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AF-220E精密电子分析天平日本新光AF-220E精密电子分析天平

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  • 更新时间:
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  • 深圳市新朗普电子科技有限公司
  • 2017-07-19 17:10:23
  • 931

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【简单介绍】

日本新光AF-220E精密电子分析天平:量程220g,精度0.1mg,称盘尺寸为∮80mm,具自动侦测零点、水平位置及温度功能,以确保秤重准确;特殊拉门设计,多种开关选择;

【详细说明】

日本新光AF-220E精密子分析天平

AF-220E精密电子分析天平 日本新光
 
 
常备现货
 
产品说明
● 具自动侦测零点、水平位置及温度功能,以确保秤重准确;
●  特殊拉门设计,多种开关选择
    1. 防風罩两侧也拉门式设计, 皆可开、关(一手拿秤物时, 另一手可以拉开防风罩, 非常方便);
   2. 防风罩及秤盘都是組合式, 可拆卸;
   3. 玻璃內面, 秤盘计量皿皆可以清潔;
   4. 沒轨道的设计,不易留灰尘或粉末;
 

型号
AF-220E
AF-R220E
量程
220g
精度
0.0001g
秤盘尺寸(mm
∮80mm
体积W*D*H(mm)
320*210*335mm
电源
AC120/230V DC9V
輸出方式
RS-232C
重量
5.2kg
5.5kg

 
附加:AF-(R)內藏校正砝码,具有自动校正功能,「CAL」键ONE TOUCH自动校正,接上印表机即可列印校正紀录及SPAN TEST, 可显示日期、时间等。亦可保存历史纪录。
 
 
    
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