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INFICON/英福康全功能型残余气体分析仪

参  考  价面议
具体成交价以合同协议为准

产品型号Transpector CPM RGA

品       牌INFICON/美国

厂商性质代理商

所  在  地杭州市

更新时间:2024-01-24 14:08:43浏览次数:1762次

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产地类别 进口 价格区间 面议
应用领域 电子,综合
INFICON/英福康全功能型残余气体分析仪 Transpector CPM RGA
INFICON CPM RGA(残余气体分析仪)是一台全功能、轻便、高性能气体分析仪,理想地用于现场监测复杂的过程. 其干式抽空系统采用INFICON Transpector 2 气体分析系统的验证技术,并达到新的性能水平。

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INFICON/英福康全功能型残余气体分析仪 Transpector CPM RGA


INFICON CPM RGA(残余气体分析仪)是一台全功能、轻便、高性能气体分析仪,理想地用于现场监测复杂的过程. 其干式抽空系统采用INFICON Transpector 2 气体分析系统的验证技术,并达到新的性能水平。

功     能
  • 应用于ALD、蚀刻、CVD ,对残余气体进行过程监测和分析

  • 测量速度为每点 1.8 ms(每秒 555 点)

  • 在大多数苛刻 CVD 和蚀刻应用中,展现出经实践验证的耐久性和可靠性

  • 应用集成 — Transpector CPM 集成 FabGuard 软件,由 INFICON 提供支持,是一款强大的过程监测与诊断工具

  • 紧凑尺寸 — 允许轻松集成到半导体生产设备

  • Hexblock™ 含三个压力进口并减少表面积,以最小化表面反应时间和响应时间

  • 电容隔膜计 (CDG) — CDG 允许用户监测过程压力,并自动保护系统不出现压力偏移

  • 自动校准 — 确保长期数据稳定性和精度,以便进行各传感器和工具的腔室匹配

用户优越性

   INFICON Transpector CPM 的下列性能可在低成本下实现现场早期报警:
   ■    测量气相反应;
   ■    验证真空的完整性;
   ■    鉴别痕量污染物;
   ■    测量过程与本底的组分;
   ■    定性气体纯度。
Type100 AMU CPM200 AMU CPM300 AMU CPM
分辨率1 amu wide @ 10% peak height1 amu wide @ 10% peak height1 amu wide @ 10% peak height
总压力范围¹5E-7 - 1E-3 Torr5E-7 - 1E-3 Torr5E-7 - 1E-3 Torr
总压力精度²+/- 25% 1E-6 - 1E-3 Torr+/- 25% 1E-6 - 1E-3 Torr+/- 25% 1E-6 - 1E-3 Torr
最大离子源工作压力³1E-3 Torr1E-3 Torr1E-3 Torr
标称工作压力2E-4 Torr2E-4 Torr2E-4 Torr
系统工作压力1E-8 Torr - 1.2 atm1E-8 Torr - 1.2 atm1E-8 Torr - 1.2 atm
灵敏度(低发射)> 4E-6 Amps/Torr> 2E-6 Amps/Torr> 1E-6 Amps/Torr
灵敏度(高发射)> 2E-5 Amps/Torr> 1E-5 Amps/Torr> 5E-6 Amps/Torr
最小可检测分压1E-13 Torr2E-13 Torr4E-13 Torr
最大数据速率1.8 ms/point (555 points/sec)1.8 ms/point (555 points/sec)1.8 ms/point (555 points/sec)
丰度灵敏度< 5 ppm< 10 ppm< 100 ppm
零冲击< 2 ppm< 25 ppm< 200 ppm
检测限值< 1 ppm< 2 ppm< 4 ppm
线性度+/- 20%+/- 20%+/- 20%
最小背景压力1E-8 Torr1E-8 Torr1E-8 Torr
最大传感器和进气温°C150150150

INFICON/英福康全功能型残余气体分析仪 Transpector CPM RGA

1.使用总压强镜头获得的离子源压强读数@低发射

2.总压强准确度@低发射

3.离子源最大工作压强@低发射

4.2x10-4Torr的离子源将在四极区域产生大约1x10-5Torr的压强

5.EM开启且保压时间为1秒时离子源处的MDPP

6.质量数4041 AMU的贡献

7.零冲击对2 AMU的贡献

8.空气中的氪的最小可检出浓度@ 1秒保压时间

9.适用于1 Torr孔板或更低设置。0.12倍标称孔板压强条件下的线性@低发射


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