MultiMode 8-HR MultiMode 8-HR 扫描探针显微镜

MultiMode 8-HR 扫描探针显微镜

仪器简介：

MultiMode平台是世界上应用zui广泛的扫描探针显微镜（SPM），已经在成功安装使用了近万套。它的成功基于其ling先的高分辨率和高性能，的多功能性，以及已经得到充分证实的效率和可靠性。现在，MultiMode扫描探针显微镜以其*的ScanAsyst模式，采用其先进的自动图像优化技术，使得用户无论具备什么技能水平，也能在材料科学，生命科学，聚合物研究ling域的研究中zui迅速地获得符合要求的研究成果。
           SPM的控制电路也是影响性能的重要因素，第五代的NanoScope V控制器具有先进的数字架构：具有高数据带宽，低噪声数据采集和的数据处理能力。布鲁克的zui先进的技术已经开创工业上的新标准，例如：ScanAsyst 模式 & PeakForce QNM 模式。
          Multimode 的加热和制冷装置能对样品进行加热与制冷，适合于生物学，聚合物材料以及其他材料研究应用。采用加热和制冷装置后MULTIMODE 可在零下35ºC到250 ºC范围内对样品进行温度控制；并可以在水，溶液或缓冲剂的液体环境中进行扫描。当在气体环境下对样品进行扫描时，采用环境控制舱可以在大气压标准下控制环境气体的成分。

技术细节

AFM性能的*诠释

MultiMode^®是世界上zui受欢迎的扫描探针显微镜，得到客户的高度认可，迄今为止数以万计的MultiMode^®扫描探针显微镜已经在成功安装使用。其世界ling先的超高分辨率，完备的仪器性能，以及得到充分验证的数据可靠性，奠定了其在AFMling域的ling导地位。

 简便易行，轻松获得专业结果

• 使用zui新的自动扫描成像模式ScanAsyst™，研究人员不必再去繁琐地调整Setpoint、反馈增益和扫描速度等参数，不论是在大气下还是在溶液中，都可以轻松获得高质量图像。
• 在溶液环境下扫描更简便易行，它无需进行寻找探针的共振频率，ScanAsyst始终直接控制针尖样品间的作用力，这样可以消除Setpoint。

功能强大的定量成像模式

• Bruker专li的新型成像模式PeakForce™ QNM™，可以对材料纳米尺度的力学性质进行定量检测，在正常的扫描速率下获得高分辨率的材料粘附力和弹性模量图像。与传统的相位成像和某些厂家的多频技术不同的是，使用Peakforce™ QNM™模式可获得精确、定量的实验数据。
• PeakForce TUNA™模块，能够定量测量样品的导电特性，这是传统的导电模式所不能实现的。
• 全新推出ScanAsyst-HR, 可以在MultiMode8上实现快速扫描模式。与传统的AFM相比，在其速度提高6倍时仍不损失图像分辨率，获得超高分辨的AFM图像。zui快扫描速度，可比传统的AFM提高20倍。

具有zui高的分辨率和测试性能

• 迄今为止，利用MultiMode系列原子力显微镜，已发表大量高水平论文，帮助科学家们解决了
• 诸多重大前沿科研问题。MultiMode8采用结构紧凑的刚性设计，即使样品的测试难度大，测试条件极为苛刻，也能实现低系统噪音，获得超高分辨率的图像。
• NanoScope®V控制器提供业界zui低的系统噪音和*的超高带宽，大大提高了数据分析能力，适用于更多的研究ling域。
• Bruker*的Peak Force Tapping® 技术，精确控制针尖与样品的作用力，可远低于TappingMode™所需要的力。

功能完备，适用于各研究ling域

• 大气或者溶液环境中，MultiMode8都能够完成样品检测，以其超高分辨率和完备的功能，被广泛应用于物理、化学、材料、电子以及生命科学等各个ling域。
• 在MultiMode8上可选配温度调节和环境控制附件。加热到250°C，冷却至-35°C，或在水蒸气和氧气含量小于1ppm的手套箱中，都可以实现敏感样品的检测和成像。
• MultiMode8基本操作模式的基础上选配不同功能的附件，可在高分辨成像的同时，获得样品的力学、电学、磁学、热力学等各项性能指标 

技术参数：

1. 显微镜：多种可选Multimode SPM扫描头
AS-0.5系列：横向(X-Y)范围0.4µm×0.4µm,竖直(Z)范围0.4µm
AS-12系列：横向(X-Y)范围10µm×10µm,竖直(Z)范围2.5µm
AS-130系列：横向(X-Y)范围125µm×125µm,竖直(Z)范围5.0µm
PF50：横向(X-Y)范围40µm×40µm,竖直(Z)范围20µm
2. 噪声：垂直(Z)方向上的RMS值＜0.3埃 （带防震系统的测量值）
3. 样品大小：直径≤15mm, 厚度≤5mm
4. 针尖/悬臂支架：
    空气中轻敲模式/接触模式(标准)
    液体中轻敲模式/力调制(可选) 
    空气中力调制(可选)；电场模式(可选)
    扫描热(可选-需要大的光学头或者外加的应用组件)
    STM转换器(可选)
    低电流STM转换器(可选)；接触模式液体池(可选)
    电化学AFM或STM液体池(可选)
    扭转共振模式(可选)
5. 防震和隔音：
    硅胶共振模式(可选)
    防震三脚架(可选) ；防震台(可选) 
    集成的防震台和隔音罩(可选)

主要特点：

1. 世界上zui高的分辨率
2. 出众的扫描能力
3. 优异的可操作性
4. 非凡的灵活性与功能性
5. 无限的应用扩展性
Multimode可以实现全面的SPM表面表征技术，包括：
 轻敲模式(Tapping Mode AFM)
 接触模式(Contact Mode AFM)
 自动成像模式(ScanAsyst)
 相位成像模式(Phase Imaging)
 横向力术模式(laterial Force Microscopy, LFM)
 磁场力显微术(Magnetic Force Microscopy, MFM)
 扫描隧道显微术(Scanning Tunneling Microscopy, STM)
 力调制(Force Modulation)
 电场力显微术(Electric Force Microscopy, EFM)
 扫描电容扫描术(Scanning Capacitance Mcroscopy, SCM)
 表面电势显微术(Surface Potential Microscopy)
 力曲线和力阵列测量(Force-Distance and Force Volume Measurement)
 纳米压痕/划痕(Nanoindenting/Scratching)
 电化学显微术(Electrochemical Microscopy, ECSTM and ECAFM)
 皮牛力谱(PicoForce Force Spectroscopy)
 隧道原子力显微术(Tunneling AFM, TUNA)
 导电原子力显微术(Conductive AFM, CAFM)
 扫描扩散电阻显微术(Scanning Spreading Resistance Microscopy, SSRM)
 扭转共振模式(Torsional Resonance mode, TR mode)
 压电响应模式(Piezo Respnance mode, PR mode)
 其他更多模式....