LT/CDNY-03AM 北京光学膜层厚度测量控制仪
| 参考价 | ¥ 8500 |
| 订货量 | ≥1台 |
具体成交价以合同协议为准
- 公司名称 北京恒瑞鑫达科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型号 LT/CDNY-03AM
- 产地 北京
- 厂商性质 经销商
- 更新时间 2020/10/21 11:23:44
- 访问次数 773
联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息，谢谢!
| 产地类别 | 国产 | 价格区间 | 1-1千 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 化工,生物产业,石油,地矿 |
光学膜厚仪 光学膜层厚度测量控制仪
型号：LT/CDNY-03AM
北京光学膜层厚度测量控制仪
CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有的抑制能力。
北京光学膜层厚度测量控制仪主要性能指标及技术指标
主信号通道：
信号输入方式：单端交流输入
输入量程：0.5mV-500mV
信号频率范围:1KHz±5%
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端)
性误差: ≤0.1%
零点时源： ≤0.2%/h
参考信号通道：
信号输入方式：单端交流输入
输入幅度：20-700mV
频率范围:≥320。
调制光源 |
|
| 本光源是光学镀膜工艺的信号源。它具有稳定可靠、安装调试方便。聚焦光斑直径小为φ3mm 主要数据 频率: 1000HZ±1% 500HZ±1% 250HZ±1% 焦距 200mm~4000mm 散热：轴流风机 |
北京恒瑞鑫达科技有限公司是集专业设计、开发、生产与销售于一体的*股份制企业，专注于新型材料试验机的研制、材料检测技术的提高及材料试验方法的创新，是的材料试验检测仪器的生产企业。恒瑞鑫达以精美的产品、*的技术、精良的品质、精心的服务赢得了广大用户和*，产品全国，拥有一大批国内外有名科研院所及企业用户，是国内试验机行业发展速度快的企业之一。
采购中心
化工仪器网