OmniScan X3 64相控阵探伤仪应用领域

OmniScan X3 64相控阵探伤仪应用领域|上海如庆电子科技有限公司-无损事业部

受益于64晶片脉冲发生器相控阵技术

使用OmniScan X3 64探伤仪可以充分发挥64晶片相控阵探头的潜力，提高焦点处的分辨率。

向右滑动：使用32通道OmniScan X3探伤仪和64晶片探头（5L64-A32型号）获得的图像。虽然这个S扫描是高质量图像，但是其分辨率反映了以下事实：只有中间32个晶片可用于聚焦法则。

向左滑动：OmniScan X3 64探伤仪使用一个全部64晶片孔径（5L64-A32探头）获得的图像，在焦点处提供了更好的PA分辨率，可使您更轻松地分辨出靠在一起或聚集成簇的缺陷指示。

实现全部128晶片孔径TFM（全聚焦方式）

新一代电子设备使TFM成像成为可能，TFM成像可为更小的缺陷指示提供更好的聚焦能力，并改善了信噪比（SNR）。 OmniScan X3 64型号提供128晶片孔径的能力，增强了图像清晰度。

向右滑动：该TFM图像使用OmniScan X3 32通道型号和一个128晶片探头（3.5L128-I4型号）的64个晶片获得。

向左滑动：OmniScan X3 64探伤仪可使我们使用我们的3.5 MHz、128晶片I4探头的全部128晶片孔径采集这张图像。 请注意这张图像提高的分辨率和降低的背景噪音。